软门限去噪法在X射线能谱分析中的应用

从函数空间的剖分和理想滤波器组的角度分析了多分辨率信号的分解与重构 ,提出了一种 X射线能谱去噪的方法 ,即应用 Mallat算法对谱信号进行小波分解 ,然后应用一个非线性软门限函数在小波域内将噪声抑制和消除 ,最后重构得到去噪后的能谱。

用质子激发X射线能谱分析技术测量FVAPD装置合成薄膜均匀性

采用质子激发的X射线能谱分析 (PIXE)方法对磁过滤阴极真空弧沉积 (FVAPD)装置在Al板上合成Ti膜相对厚度进行了测量 ,给出了沉积靶室中不同位置大面积合成薄膜的均匀性 .通过同背散射分析 (RBS)测量结果的比较表明 :利用在轻衬底上合成重元素薄膜的PIXE分析可以快速、无损和精确地测量FVAPD装置合成薄膜的均匀性 .

微细矿物的扫描电镜-X射线能谱分析研究

扫描电镜在国外已被广泛用于矿物分析研究工作。我国地学界在七十年代初引进扫描电镜,国产扫描电镜从1975年开始批量生产。目前,扫描电镜可以清晰观察粒径为微米级的矿物(最小可至1微米),同时可以迅速分析出矿物的主要化学元素组分。近几年来,我们用配接有TN-5400型X射线能谱仪的KAD-1000B型扫描电镜(分辨率为60A)观察分析了上百种矿物,发现了一些很有意义的微观现象,对这些现象进一步分析研究,将会对矿物学的发展起重要促进作用。

杜仲树皮、树叶、树枝及其生存土壤的X射线能谱分析

用X射线能谱仪测定了杜仲树皮 ,树叶 ,树枝的无机元素组成 ,发现它们有相同的元素组成 :Mg、Al、Si、S、K、Ca、Fe ,但Mg、Ca、Al、Fe元素的质量分数差异较大。对杜仲所生存土壤也进行了X射线能谱分析 ,统计分析了杜仲树皮、树叶。

皮革肉面纤维束与人造革底基纤维的扫描电镜观察和X射线能谱分析

对多种天然皮革肉面纤维束及人造革底基纤维的形态结构进行了扫描电镜(SEM)观察,并且利用X射线能谱仪(EDS)对上述多种纤维进行了元素分析。结果表明,皮革肉面纤维束与人造革底基纤维在元素组成与形态结构等方面存在着显著性差异。本研究方法与理论可为皮革的鉴别与分类等提供参考依据。

玻璃结瘤、波筋的扫描及X射线能谱分析

介绍了在平板玻璃行业中用扫描电镜及Ｘ射线能谱仪分析常见的玻璃缺陷的方法及对分析结果的精度估计。结果表明，在用光学显微镜无法定性的某些玻璃缺陷中，用扫描电镜及Ｘ射线能谱仪分析是十分有效的，并且有利于迅速准确判断玻璃缺陷来源。

皮革肉面纤维束与人造革底尽纤维的扫描电镜观察和X射线能谱分析

本文对牛皮革、羊皮革、猪皮革肉面纤维束以及人造革底基纤维的形态结构进行了扫描电镜（SEM）观察，并且利用X射线能谱仪（EDS）对上述多种材料进行了元素分析。结果表明，皮革肉面纤维束与人造革底基纤维在形态结构与元素组成等方面存在着显著性差异。本研究成果可为皮革的鉴别与分类提供参考依据。

X射线检测分析技术在文物保护修复中的应用

X射线检测分析技术在陶瓷、纸质、金属、石质等不同材料的文物保护修复领域应用广泛。介绍了X射线荧光分析、X射线衍射分析、X射线光电子能谱分析、X射线检测分析等技术在文物保护修复研究工作中的应用实例。

无窗X射线能谱在荧光样品与金属锂成分分析中的优势与经验摸索

用扫描电子显微镜搭载的有窗X射线能谱仪(EDS能谱)对荧光样品进行分析时,由于电子束的激发作用,样品受激自发产生的荧光将严重干扰EDS能谱探头对特征X射线的分析,最终导致定量困难甚至难以定性.新型无窗EDS能谱由于其优异的低能量端信号采集与分析能力,结合单颗粒小区域采集的方法,可以成功实现荧光样品的正常EDS能谱分析.由于无窗EDS能谱仪没有传统薄膜窗口的吸收作用,其最低可分析元素为锂.通过优化加速电压,并借助样品表面钝化膜的保护作用,克服了背景噪音与样品污染的干扰,成功实现对单质锂的检测.

β-Ga_2O_3体单晶X射线光电子能谱分析

通过对导模法制备的非故意掺杂、Si掺杂β-Ga_2O_3晶体和Si掺杂后退火处理的β-Ga_2O_3晶体进行了X射线光电子能谱分析(XPS),对比分析不同样品的Ga3d、Ga2p、O1s特征峰位和峰强度变化,并结合文献报道中β-Ga_2O_3薄膜及单晶材料的报道结果,进一步确认β-Ga_2O_3体单晶特征峰峰值。同时,通过对各峰强度的变化进行对比分析,对次峰产生的原因进行推测,获得Si掺杂及退火对晶体表面及晶体内部个特征峰的变化规律。

松花粉的红外光谱、扫描电镜和X射线能谱仪分析

建立了利用傅里叶变换红外光谱法(FTIR)、扫描电镜(SEM)和X射线能谱对4种松花粉和破壁马尾松花粉中的主要营养成分和常见微量元素进行定性定量分析的方法。红外图谱分析结果表明:马尾松、云南松、油松和赤松均有其自己的红外光谱特征,根据谱图特征吸收峰的相对强度的差异可以对松花粉中主要营养成分进行鉴别分析。破壁和天然马尾松花粉的红外图谱差异较显著,说明松花粉破壁对于营养成分的释放有一定意义。扫描电镜和X射线能谱分析显示:4种松树花粉从远极面和近极面观皆呈椭圆形或近圆形,主体的表面纹饰结构基本相同为颗粒状纹饰,颗粒大小差别较大。破壁与天然马尾松花粉的形态差别主要在于气囊从花粉主体颗粒上分离、破碎,有部分花粉颗粒主体的碎片从主体脱落。X射线能谱分析在松花粉中共发现Mg,Se,Si,Sr,P,S,Cl,K,Ca,Mn,Fe共11种无机元素,其中K元素含量最高。4种松花粉中无机元素含量差别比较明显,破壁马尾松花粉的元素能谱强度显著高于天然马尾松。

低空气比释动能率和窄谱系列过滤X射线参考辐射能谱测量和分析

利用HPGe探测器能谱仪对已经建立的低空气比释动能率和窄谱两个系列的过滤X射线参考辐射进行了实验测定,通过蒙卡模拟方法建立了探测系统的模型,模拟计算能量6 keV～305 keV间隔1 keV的响应矩阵,利用反卷能谱法得到参考辐射场的注量谱,进而计算了各参考辐射的平均能量、能量分辨率、半值层、同质系数、从空气比释动能到周围剂量当量和个人剂量当量的转换系数,并与GB/T 12162中给出的参考谱和各特征值的推荐值进行了比较,两者符合较好,验证了已建立的X射线参考辐射的准确性和可靠性。

家猫针毛的形态研究和X射线能谱元素分析

本文对家猫针毛的形态结构进行了扫描电镜（ＳＥＭ）观察，并且利用Ｘ 射线能谱仪（ＥＤＡＸ）分别对鳞片层、皮质层和髓质层进行了元素分析。结果表明：家猫针毛具有特殊的形态结构，针毛纤维各层间所含元素有明显区别。可为家猫针毛的性能研究及鉴别提供依据。

能散X射线能谱数据分析中的基体修正系数最佳化

描述由标样中每个感兴趣元素的相互独立的基体修正系数导出相互关联的最佳基体修正系数的数学物理方法及其运算公式。最佳基体修正系数应用于能散Ｘ射线能谱分析可提高样品中每个感兴趣元素的分析精确度，特别对样品中低于或等于０．３％浓度感兴趣元素的分析，相对误差由２３％下降到１５％。

扫描电镜和X射线能谱仪对长裙竹荪子实体常见微量元素的定性定量分析

利用扫描电镜和X射线能谱仪对长裙竹荪子实体的菌裙、菌柄和菌托中的微量元素Na、Mg、Ca、K、Fe、P、Cu、Mn和Zn进行了测定,并计算出了它们的相对重量百分比。结果表明,菌裙、菌柄和菌托均含有上述各种微量元素,但含量各不相同。

机械装备的失效分析(续前) 第6讲 X射线分析技术

首先简要介绍了X射线及其与物质的相互作用以及晶体学基础理论;然后重点介绍了X射线分析技术在机械装备失效分析中的应用,包括X射线探伤、X射线衍射分析以及X射线光电子能谱分析。分析表明:X射线分析技术在机械装备失效分析中具有广泛的应用;X射线探伤利用X射线较强的穿透能力,可以用于检测材料中的各种缺陷,在复杂失效件的切割取样过程中具有较强的指导作用;X射线衍射技术可从原子或离子级别来对晶体进行分析和研究,还可对许多可能引起构件失效的残余应力进行准确测定;X射线会使被照射物质发生电离,产生各种元素特有的信息,以X射线作为光源的各种谱仪可以对组成被分析物质的化学元素种类以及元素价态进行分析,这对失效原因的准确判断具有重要作用。

应用细胞化学法与X-射线能谱仪对深低温停循环后脑神经细胞中Ca^(++)浓度的定量研究

用草酸－焦锑酸钾细胞化学法显示深低温（１８℃）停循环（ＤＨＣＡ）１２０ｍｉｎ后脑神经细胞内Ｃａ＋＋的分布及超微结构改变，同时利用Ｘ－射线能谱仪测量细胞内Ｃａ＋＋浓度以及停循环时应用１．６－二磷酸果糖（ＦＤＰ）保护液后细胞内Ｃａ＋＋浓度的变化。结果显示：（ＤＨＣＡ）１２０ｍｉｎ后脑神经细胞超微结构破坏严重，细胞内Ｃａ＋＋浓度明显增加。但在（ＤＨＣＡ）期间应用（ＦＤＰ）脑保护液后可以明显减轻术后神经细胞内Ｃａ＋＋聚积与脑损伤，是（ＤＨＣＡ）下脑保护的可行方法。

水泥基渗透结晶型防水材料渗透深度扫描电镜和能谱分析

利用扫描电镜和X射线能谱仪,测定水泥基渗透结晶型防水涂料CN2000B在不同深度的主要元素,并计算其相对百分比,根据元素含量的变化来推断该材料在砂浆中的渗透深度。结果表明,该材料在砂浆中的渗透深度随龄期的增长而逐渐加深。

Si-Al催化剂对碳烟氧化特性影响的XPS分析

为揭示Si-Al催化剂对碳烟氧化特性的影响作用,对碳烟及其部分被氧化碳烟的表面结构特征进行X射线光电子能谱(XPS)分析,了解碳、氧元素的表面结构中的存在形态及其差异。以商业碳黑(PU)代替实际的柴油机碳烟,碳烟中不加入催化剂,随着氧化温度的上升,碳烟微观结构的晶格化程度越来越深。加入催化剂后,650℃下碳烟的氧化特性与不加催化剂的相似,微观结构呈现较多的晶格结构。1 000℃下碳烟的微观结构中呈现出较多的无序的无定型结构。可知:Si-Al催化剂改变了碳烟在氧气气氛下的氧化机理;1 000℃下催化剂的加入,会促进难以氧化的晶格结构的氧化。

氢化锆表面CO_2反应层XPS分析

通过X射线光电子能谱分析了经过700℃加热前后的用CO2反应法制备的氢化锆表面反应层中一定深度(100nm、200nm和300nm)的C、O和Zr的化学态,并用相对灵敏度因子法对X射线光电子能谱分析结果进行了计算分析。结果表明:700℃加热前的膜层中含有C、O和Zr以及C—H键和—OH键;经过700℃加热以后,氢化锆表面氢渗透阻挡层中不仅有C—H键和—OH键,而且还出现了—COOH,与H结合的C、O量增大。