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国内半导体器件的可靠性筛选技术 被引量:7
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作者 丁继善 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1999年第3期55-57,共3页
回顾了80年代以来国内器件厂广泛应用的在高可靠器件发展过程中已发挥了重要作用的可靠性筛选技术。
关键词 筛选项目 筛选条件 半导体器件 可靠性
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塑封半导体器件的可靠性增长分析 被引量:5
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作者 丁继善 《电子产品可靠性与环境试验》 2000年第6期40-44,共5页
应用EDRIC可靠性模型对彩电配套用塑封整流二极管进行了增长分析,讨论了该器件的失效模式、失效机理及增长对策,使该器件的可靠性得到了较大的增长。
关键词 可靠性增长 塑封 半导体器件 EDRIC 二极管
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半导体器件质量保证各阶段的质量评定系统
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作者 丁继善 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1997年第1期15-18,37,共5页
阐述了半导体分立器件质量保证7个阶段中的质量评定系统。着重讨论了半导体分立器件批量试制阶段与市场(售后)阶段的质量评定内容、方法与一些统计结果,指出获得这些质量评定数据及注意评定后的质量跟踪。
关键词 质量保证 质量评定系统 半导体器件
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电子产品设计方案阶段的质量保证活动
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作者 丁继善 《电子质量》 2002年第3期116-117,119,共3页
主要叙述电子产品设计方案阶段质量保证活动的内容及其实施方法。
关键词 电子产品 设计 质量 保证
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半导体器件可靠性筛选
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作者 丁继善 《电子元件质量》 1994年第4期40-41,12,共3页
关键词 半导体器件 可靠性 失效分析
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