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AFM悬臂定位系统中光干涉误差及减小方法研究(英文)
被引量:
3
1
作者
黄强先
万耿华
+4 位作者
谢鸿
权太聪
三隅伊知子
金泰皓
黑泽富藏
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第2期217-223,共7页
光杠杆法是原子力显微镜(AFM)悬臂定位的主要方法。由于悬臂自身的尺寸和材料特性、检测光路系统等因素制约,悬臂弯曲测量时存在光泄露。被试样表面反射的部分泄露光与悬臂反射光产生干涉,在探针—试样接近曲线中产生光干涉误差。基于...
光杠杆法是原子力显微镜(AFM)悬臂定位的主要方法。由于悬臂自身的尺寸和材料特性、检测光路系统等因素制约,悬臂弯曲测量时存在光泄露。被试样表面反射的部分泄露光与悬臂反射光产生干涉,在探针—试样接近曲线中产生光干涉误差。基于轻触模式AFM,分析了光干涉误差的产生原因,并对其引起的AFM测量误差进行了数学分析和仿真、提出了减小光干涉误差的方法。实验结果和理论分析表明,为了进一步提高AFM的测量精度,有必要克服定位系统中的光干涉误差。
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关键词
干涉误差
光杠杆法
悬臂
原子力显微镜
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职称材料
亚纳米精度长度溯源计量型动态模式原子力显微镜
被引量:
1
2
作者
黄强先
■太聪
+1 位作者
三隅伊知子
黑澤富藏
《机械工程学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第3期195-199,共5页
通过与长度溯源三轴激光干涉仪测量系统结合,设计开发计量型动态模式原子力显微镜(AFM)。此AFM系统中,三轴激光干涉仪系统用于实时测量AFM测头与试样的相对位移。激光干涉仪系统的x,y,z测量轴正交于AFM探针顶端附近的一点,基本可以避免...
通过与长度溯源三轴激光干涉仪测量系统结合,设计开发计量型动态模式原子力显微镜(AFM)。此AFM系统中,三轴激光干涉仪系统用于实时测量AFM测头与试样的相对位移。激光干涉仪系统的x,y,z测量轴正交于AFM探针顶端附近的一点,基本可以避免系统的阿贝误差,使AFM具有极高的测量精度。除此之外,扫描过程中三轴激光干涉仪系统还用于工作台x,y方向位移的反馈控制,完全克服AFM中压电器件的缺陷对水平尺寸测量的影响。分析表明.在对纳米标准栅的平均栅距测量中,AFM系统达到亚纳米的测量精度。
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关键词
长度溯源
激光干涉仪
动态模式原子力显微镜
纳米计量
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职称材料
题名
AFM悬臂定位系统中光干涉误差及减小方法研究(英文)
被引量:
3
1
作者
黄强先
万耿华
谢鸿
权太聪
三隅伊知子
金泰皓
黑泽富藏
机构
合肥工业大学仪器科学与光电工程学院
产业技术综合研究所日本国家计量院筑波
合肥工业大学计算机与信息学院
产业技术综合研究所日本国家计量院
出处
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第2期217-223,共7页
基金
Supported by the Foundation of Creating Research Group Programme, Hefei University of Technology, and Provincial Key Labora-tory "Quality Engineering of Modern Test and Manufacture" Foundation of Anhui
文摘
光杠杆法是原子力显微镜(AFM)悬臂定位的主要方法。由于悬臂自身的尺寸和材料特性、检测光路系统等因素制约,悬臂弯曲测量时存在光泄露。被试样表面反射的部分泄露光与悬臂反射光产生干涉,在探针—试样接近曲线中产生光干涉误差。基于轻触模式AFM,分析了光干涉误差的产生原因,并对其引起的AFM测量误差进行了数学分析和仿真、提出了减小光干涉误差的方法。实验结果和理论分析表明,为了进一步提高AFM的测量精度,有必要克服定位系统中的光干涉误差。
关键词
干涉误差
光杠杆法
悬臂
原子力显微镜
Keywords
interference error
optical lever method
cantilever
AFM
分类号
TH71 [机械工程—测试计量技术及仪器]
TH89 [机械工程—精密仪器及机械]
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职称材料
题名
亚纳米精度长度溯源计量型动态模式原子力显微镜
被引量:
1
2
作者
黄强先
■太聪
三隅伊知子
黑澤富藏
机构
合肥工业大学仪器科学与光电工程学院
天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室
日本产业技术综合研究所
出处
《机械工程学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第3期195-199,共5页
基金
日本新能源和产业技术开发组织(P02045)
天津大学精密测试技术
仪器国家重点实验室开放基金。
文摘
通过与长度溯源三轴激光干涉仪测量系统结合,设计开发计量型动态模式原子力显微镜(AFM)。此AFM系统中,三轴激光干涉仪系统用于实时测量AFM测头与试样的相对位移。激光干涉仪系统的x,y,z测量轴正交于AFM探针顶端附近的一点,基本可以避免系统的阿贝误差,使AFM具有极高的测量精度。除此之外,扫描过程中三轴激光干涉仪系统还用于工作台x,y方向位移的反馈控制,完全克服AFM中压电器件的缺陷对水平尺寸测量的影响。分析表明.在对纳米标准栅的平均栅距测量中,AFM系统达到亚纳米的测量精度。
关键词
长度溯源
激光干涉仪
动态模式原子力显微镜
纳米计量
Keywords
Length-traceable Laser interferometer Dynamic mode atomic force microscopy Nano-metrology
分类号
TH71 [机械工程—测试计量技术及仪器]
TH89 [机械工程—精密仪器及机械]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
AFM悬臂定位系统中光干涉误差及减小方法研究(英文)
黄强先
万耿华
谢鸿
权太聪
三隅伊知子
金泰皓
黑泽富藏
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007
3
下载PDF
职称材料
2
亚纳米精度长度溯源计量型动态模式原子力显微镜
黄强先
■太聪
三隅伊知子
黑澤富藏
《机械工程学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008
1
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职称材料
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