天然石墨的组成和结构研究

本工作是中国国产天然石墨应用系列研究之一,研究对象是不同牌号的商品石墨样品,利用X-射线衍射(XRD)和差热分析(DTA)等手段对其组成和结构进行了详细的研究。XRD分析表明,天然石墨中含有石墨碳(一种类石墨),其它除六方石墨外,还有适量的菱方石墨。XRD分析还很好地解释了某些高碳石墨样品之DTA曲线的双峰现象——石墨样品中碳素组成和结构不同致使氧化峰值温度不同。分析测试发现,石墨碳的氧化峰值温度比石墨的高约100℃,而且氧化峰值温度是随粒度的增大而提高。本文还通过多个样品的结构测定,归纳出一般石墨样品针对不同分析目的和层次所需采用的XRD分析方法。

多晶薄膜X-射线衍射

作者在普通X-射线衍射仪上实施了样品倾斜X-射线衍射(STD)技术,不需要专用薄膜附件(TFA)也能很好地进行薄膜结构的测定,并且给出其衍射能量方程和方位角方程,从而使理论、实验和结构解析结合为一体。目前,应用该技术已经成功地解决了一些其它简便方法所无法解决的诸如物相纵向分布变化测量等问题。本文还通过几种摩擦学用膜的测定结果阐明了该技术的应用及功能。

微生物处理顽金矿结构研究

简述了新疆哈图顽金矿经微生物处理后矿物组成和结构变化状况。根据X-射线衍射(XRD)分析,顽金矿中含有毒砂、硫化砷、氧化砷、黄铁矿以及硅酸盐类等矿物。研究表明,经微生物处理的金矿中,以结晶形式的硫化砷、氧化砷和毒砂已不复存在;适当调整工艺,结晶黄铁矿也显著减少。滤液经调pH值后的固体相呈非晶状态,使赋存在毒砂等矿物中的金得以暴露而易于用传统的氰化处理方法提金。此外,用电子显微能量色散谱(SEM-EDAX)及化学分析方法考察了砷元素在矿渣中含量随着不同处理方法降低的趋势与XRD分析的晶相砷化物降低的趋势相一致。又用电子能谱(XPS)考察了砷铁、硫等元素价态变化状况。

粉末X射线衍射用多功能附件的功用及其原理

标题所示附件是迎合粉末X射线衍射用多功能XMF数学模型的需要而研制的,故而得名,该多功能附件是与主机二维广角X射线衍射仪配套使用的。适合于粉末及固体薄膜等多晶材料的定性、定量、剖面、取向/织构分析,多晶及单晶体取向测定等;同时兼顾表面反射和透过反射等多种方式。这套附件具有构造简单、功能多样、分析结果直观等优点,可以作为“附件”完善现有衍射设备使其升级并具有多种新功能,也适合厂家生产构造合理、功能多样的三维(圆)X射线衍射设备。本文概要介绍其结构、原理及其功用。

Au膜结构及其微观应变的测定

介绍用Ｘ－ 射线衍射方法测定Ａｕ 薄膜材料结构及其微观应变 。利用不对称布拉格反射ＳＴＤ（ｓａｍｐｌｅ ｔｉｌ＿ｔｉｎｇ ｄｉｆｆｒａｃｔｉｏｎ） 扫描模式与常规ＣＢＤ（ｃｏｎｖｅｎｔｉｏｎａｌ Ｂｒａｇｇ ｄｉｆｆｒａｃｔｉｏｎ） 扫描模式， 确定Ａｕ 膜的结构及取向， 同时采用直接测量法（ 非卷积法） 来测定Ａｕ 的微观应变。

铁钼粉末冶金抗磨材料次表面亚稳相的XRD分析

在一台普通的二圆X射线衍射仪上 ,利用不对称布拉格反射STD(试样相对于入射线倾斜在某一角度α0,进行2θ扫描 )技术与常规CBD(正常的θ/2θ偶合扫描 )模式相结合的方法 ,对铁钼粉末冶金抗磨材料的摩擦表层、次表面层及体相的物相纵向进行了较全面分析 ,特别揭示了摩擦次表面层Fe -C亚稳相的存在 。

微观应变测定原理及应用

介绍了用Ｘ射线测定多晶体材料微观应变的新方法（非卷积方法）。该方法依据多晶体衍射Ｘ射线服从振幅／强度叠加原理，认为微细晶粒和畸变晶粒对衍射线强度的贡献是能够分离的；又根据布拉格方程，导出两者在衍射线角位移上的关系，并进一步推出测定晶粒尺寸及微观应变的表达式，从而实现了多晶不完善材料晶粒尺寸及微观应变的直接测量。通过对ＭｇＯ纤维微观应变的测定，证实该方法的实用性和可靠性。

工艺参数对PECVD TiN镀层性能的影响

本文考察了工艺参数对等离子体增强化学气相沉积(PECVD)TiN镀层性能的影响,并且研究了镀层的摩擦学性能与其物理机械性能及结晶学特征之间的关系。结果表明,当N/H比为1、Ti/N比为21、沉积温度为400℃和离化电压为1500V时,镀层具有较好的机械性能及耐磨性能。X—射线衍射分析表明,在本试验条件下所获镀层均为(200)面择优取向。作者指出,要制取理想的TiN镀层,离化电压应不低于1500V,沉积温度必须高于300℃。

一氯甲酸甲酯二-三苯基膦合铂络合物晶体结构、分子结构的研究

本文确立一氯甲酸甲酯二-三苯基膦合铂络合物是浅黄透明晶体,属于单斜晶系,P2_(1)/n空间群.并测定了晶胞参数.分子式为Pt[P(C_(6)H_(5))_(3)]_(2)·COOCH_(3)Cl,该化合物是配位键结合的新型络合物.

Ag膜的取向测定

利用不对称布拉格反射STD(sampletiltingdiffraction)扫描模式与常规CBD(conventionalBraggdiffraction)扫描模式,确定Ag膜的结构及取向。