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SOC片上嵌入式微处理器核的可测试性技术
被引量:
1
1
作者
雷加
严云锋
《国外电子测量技术》
2007年第4期6-9,共4页
本文介绍了SOC片上嵌入式微处理器核的各种可测性方法,从是否添加可测性电路来分,可分为基于硬件的自测试方法和基于软件的自测试方法。基于硬件的自测试方法是利用各种可测性设计技术实现对微处理器核的测试,包括插入DFT测试电路的方...
本文介绍了SOC片上嵌入式微处理器核的各种可测性方法,从是否添加可测性电路来分,可分为基于硬件的自测试方法和基于软件的自测试方法。基于硬件的自测试方法是利用各种可测性设计技术实现对微处理器核的测试,包括插入DFT测试电路的方法和基于BIST技术的功能性测试方法。本文提出了一种BIST型的具体测试结构,可用于测试一个简单8位处理器核;基于软件的自测试方法则是利用处理器核本身的指令集来实现自我测试。文中最后分析了这2类测试方法的优缺点和未来微处理器核的测试发展方向。
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关键词
片上系统
嵌入式微处理核
可测性设计
基于软件的自测试
基于硬件的自测试
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职称材料
题名
SOC片上嵌入式微处理器核的可测试性技术
被引量:
1
1
作者
雷加
严云锋
机构
桂林电子科技大学电子工程学院
出处
《国外电子测量技术》
2007年第4期6-9,共4页
文摘
本文介绍了SOC片上嵌入式微处理器核的各种可测性方法,从是否添加可测性电路来分,可分为基于硬件的自测试方法和基于软件的自测试方法。基于硬件的自测试方法是利用各种可测性设计技术实现对微处理器核的测试,包括插入DFT测试电路的方法和基于BIST技术的功能性测试方法。本文提出了一种BIST型的具体测试结构,可用于测试一个简单8位处理器核;基于软件的自测试方法则是利用处理器核本身的指令集来实现自我测试。文中最后分析了这2类测试方法的优缺点和未来微处理器核的测试发展方向。
关键词
片上系统
嵌入式微处理核
可测性设计
基于软件的自测试
基于硬件的自测试
Keywords
SOC
embedded microprocessor core
testing design
software-based self-test
hardware-based self-test
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
SOC片上嵌入式微处理器核的可测试性技术
雷加
严云锋
《国外电子测量技术》
2007
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