光纤寿命与疲劳参数的关系研究

自光纤诞生之日起,光纤寿命一直是人们关注的问题。然而光纤寿命的理论复杂,较难理解。光纤寿命和疲劳参数之间的关系缺乏试验数据。介绍了光纤寿命的数学理论模型及其影响因素,并详细介绍了动态疲劳参数nd和静态疲劳参数ns的测试方法。采用不同的测试方法测试了光纤疲劳参数n值,通过设计试验验证了nd与ns之间的关系,以及疲劳参数与光纤寿命之间的关系。试验结果证明:疲劳参数越大,光纤寿命越长。

G.657光纤熔接和熔接损耗测试

在G.657.A2光纤推广和使用过程中,熔接和熔接损耗的测试出现了比较突出的问题或认识误区,本文分别针对"黑线"和"晕环"现象、熔接参数调整、OTDR测试熔接损耗"大正大负"等方面的问题进行了解释和汇总。