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题名回流焊接过程中IMC的生长研究
被引量:1
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作者
田鑫亮
王晓博
王东
仝贞
李文建
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机构
中国航空工业集团公司西安航空计算技术研究所
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出处
《机电信息》
2024年第9期78-83,88,共7页
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文摘
在电子封装互连技术中,回流焊接过程是软钎焊冶金过程,是焊点界面IMC产生和生长的初始过程。在焊接界面上IMC是一把双刃剑,对器件焊点的质量有着关键性的影响,故其厚度及成分必须得到有效控制。鉴于此,通过实验对比不同回流焊接参数下回流焊接后焊点焊接面IMC的厚度及成分,得到了采用Sn63Pb37锡膏装焊的最佳回流焊接曲线参数,有利于严格控制IMC生长,提高装联焊点可靠性。
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关键词
回流焊接
IMC
峰值温度
可靠性
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分类号
TN405
[电子电信—微电子学与固体电子学]
TG40
[金属学及工艺—焊接]
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