用辐射计测定透明薄膜全发射率的研究

介绍一种用辐射计快速测定透明薄膜全发射率的方法。根据透明薄膜的“表观”发射率值与其背后衬底材料的发射率值有关这一特性,导出薄膜发射率的数学表达式,并利用辐射计准确而迅速地测出透明薄膜的全发射率。本方法对三种不同的透明薄膜样品的测量结果与红外分光光度计的测量结果基本一致。