期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
片式ZnO压敏电阻烧端工艺对限制电压比的影响
1
作者
唐斌
祝忠勇
+1 位作者
赖扬
伍尚国
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第9期28-29,共2页
通过对烧端工艺中不同烧端温度以及保温时间的试验,研究了它们对片式ZnO压敏电阻器限制电压比的影响。结果表明:当烧端温度为850℃,保温时间15min时,产品的限制电压比最小。
关键词
电子技术
片式ZnO压敏电阻器
烧端温度
保温时间
限制电压比
接触电阻
下载PDF
职称材料
题名
片式ZnO压敏电阻烧端工艺对限制电压比的影响
1
作者
唐斌
祝忠勇
赖扬
伍尚国
机构
广东风华高新科技集团有限公司
出处
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第9期28-29,共2页
文摘
通过对烧端工艺中不同烧端温度以及保温时间的试验,研究了它们对片式ZnO压敏电阻器限制电压比的影响。结果表明:当烧端温度为850℃,保温时间15min时,产品的限制电压比最小。
关键词
电子技术
片式ZnO压敏电阻器
烧端温度
保温时间
限制电压比
接触电阻
Keywords
electronic technology
chip multilayer ZnO varistors
firing temperature
soak time
clamping voltage ratio
contact resistance
分类号
TM546 [电气工程—电器]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
片式ZnO压敏电阻烧端工艺对限制电压比的影响
唐斌
祝忠勇
赖扬
伍尚国
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2005
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部