期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
PCB插入损耗不同测试方法的研究
被引量:
1
1
作者
孙梁
纪成光
何常时
《印制电路信息》
2017年第A01期64-74,共11页
随着PCB走进了高频高速领域,传输线上的信号损耗控制及测试越来越受到关注。本文重点介绍三种IPC定义的插入损耗测试方法——SET2DIL、SPP和FD。深入研究了影响SET2DIL方法测试结果偏差的一种原因,对比了SET2DIL、SPP和FD三种测试方...
随着PCB走进了高频高速领域,传输线上的信号损耗控制及测试越来越受到关注。本文重点介绍三种IPC定义的插入损耗测试方法——SET2DIL、SPP和FD。深入研究了影响SET2DIL方法测试结果偏差的一种原因,对比了SET2DIL、SPP和FD三种测试方法的数据精准度。
展开更多
关键词
插入损耗
测试方法
FD频域法
下载PDF
职称材料
题名
PCB插入损耗不同测试方法的研究
被引量:
1
1
作者
孙梁
纪成光
何常时
机构
生益电子股份有限公司
出处
《印制电路信息》
2017年第A01期64-74,共11页
文摘
随着PCB走进了高频高速领域,传输线上的信号损耗控制及测试越来越受到关注。本文重点介绍三种IPC定义的插入损耗测试方法——SET2DIL、SPP和FD。深入研究了影响SET2DIL方法测试结果偏差的一种原因,对比了SET2DIL、SPP和FD三种测试方法的数据精准度。
关键词
插入损耗
测试方法
FD频域法
Keywords
Insertion loss
Testing methods
Frequency Domain (FD) method
分类号
TN41 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
PCB插入损耗不同测试方法的研究
孙梁
纪成光
何常时
《印制电路信息》
2017
1
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部