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PCB插入损耗不同测试方法的研究 被引量:1
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作者 孙梁 纪成光 何常时 《印制电路信息》 2017年第A01期64-74,共11页
随着PCB走进了高频高速领域,传输线上的信号损耗控制及测试越来越受到关注。本文重点介绍三种IPC定义的插入损耗测试方法——SET2DIL、SPP和FD。深入研究了影响SET2DIL方法测试结果偏差的一种原因,对比了SET2DIL、SPP和FD三种测试方... 随着PCB走进了高频高速领域,传输线上的信号损耗控制及测试越来越受到关注。本文重点介绍三种IPC定义的插入损耗测试方法——SET2DIL、SPP和FD。深入研究了影响SET2DIL方法测试结果偏差的一种原因,对比了SET2DIL、SPP和FD三种测试方法的数据精准度。 展开更多
关键词 插入损耗 测试方法 FD频域法
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