切割刀老化对单模光纤几何尺寸检测结果的影响

光纤几何尺寸是单模光纤的重要性能参数,目前国内的光纤工厂一般采用专门的光纤几何尺寸检测设备进行该方面的检测。在对光纤检测前,必须用专门的光纤切割刀对光纤端面进行处理。几何尺寸的测试结果关系到光纤的品质以及前道拉丝工序的生产工艺调整。由于切割刀对光纤端面的处理效果直接影响几何尺寸的测试结果,因此,研究切割刀老化对端面处理的影响,提高几何尺寸测量准确性及稳定性,对提高光纤测试精度、指导光纤拉丝进行工艺调整,具有非常现实的意义。

石英管结构优化对光纤着色生产的影响

光纤着色的目的是为了在光缆生产和现场使用中识别光纤。着色后的光纤应该满足3点要求：

提升OTDR衰减不均匀性检测能力的方法

光纤衰减分布存在一定变化量,在光缆生产过程中,由于附加衰减的影响,光纤衰减偏大的区域可能会造成光缆成品衰减超标。为了降低此类质量风险的发生,在OTDR衰减测试中,引入"衰减不均匀性"检查项目,通过观测整段光纤的衰减分布,找到可能造成衰减值超标的异常区域并提前进行处理。因此,如何提高检测人员对于光纤衰减不均匀性的分辨能力,对降低光缆衰减超标质量问题,有着重要意义。

着色光纤OTDR异常曲线分析

本文简要叙述了着色工序的工艺流程和OTDR设备的测试原理,主要分析了几种OTDR异常曲线产生的原因,并提出了相应的解决方法。