不同边界条件下d_(15)模式压电俘能器的俘能性能

该文考虑了全夹持和半夹持边界条件分别对d15模式压电悬臂梁俘能性能的影响。基于铁木辛柯梁理论建立了d15模式压电双晶片悬臂梁装置理论模型,并制作了半夹持结构悬臂梁的实验装置模型,测量了其在不同频率和不同负载电阻下的压电俘能性能。结果表明,设计的半夹持结构悬臂梁俘能器具有更优异的俘能性能和在低频环境下俘能的潜能。

PT种子层对PZT薄膜结晶及压电性能的影响

采用溶胶-凝胶法（Sol-Gel）在Pt/Si衬底上制备了PbTiO_3（PT）薄膜和Pb（Zr_x,Ti_（1-x））O_3（PZT）薄膜,研究了退火温度以及PT种子层对PZT薄膜结晶及压电性能的影响。X射线衍射（XRD）结果表明,制备的PZT薄膜为纯钙钛矿结构的多晶薄膜,有PT种子层的PZT薄膜晶粒尺寸更大,（110）面取向度更高,结晶性能更好;原子力显微镜（AFM）结果表明,制备的薄膜表面形貌比较平整、均匀、无裂纹;压电力显微镜（PFM）结果表明,压电力显微镜（PFM）结果表明,有PT种子层时,PZT薄膜的平均压电系数d_（33）为128~237 pm/V,无PT种子层时平均压电系数d_（33）为21~29 pm/V。在升温速率为10℃/s的退火条件下保温10 min时,随着退火温度的升高,PZT薄膜晶粒尺寸增大,粗糙度增大,（110）面取向度升高,平均压电系数d_（33）增大。PT种子层能够有效的改善PZT薄膜的结晶性能和压电性能。

退火升温速率对LaNiO_3薄膜结构和电学性能的影响

采用溶胶-凝胶法在SiO2/Si(100)衬底上制备了镍酸镧(LaNiO3,LNO)薄膜,并利用XRD、SEM、AFM和半导体参数分析仪等研究了退火升温速率对LNO薄膜结构和电学性能的影响。结果表明,溶胶-凝胶法制备的LNO薄膜呈现赝立方钙钛矿型多晶结构,呈(110)择优取向生长;薄膜表面平整、均匀、无裂纹。随着退火升温速率的增加,LNO薄膜的晶粒尺寸先增大后减小;其电阻率先减小后增大。在退火升温速率为20℃/min时,LNO薄膜晶粒尺寸达到最大值94nm,电阻率达到最小值9.5×10-4Ω·m。