厚膜混合集成电路的失效分析及其缺陷产品的筛选淘汰

介绍了厚膜混合集成电路的失效分析程序,总结了在生产与使用中发现的主要失效模式,对失效机理进行了研究,提出了对存在缺陷产品的有效筛选淘汰方法。

浅谈电子产品的可靠性试验

本文根据电子产品的可靠性特点,介绍了电子产品可靠性试验的几个技术性能指标,详细讨论了可靠性试验的分类原则、试验内容以及试验方法,说明了可靠性试验是提高产品可靠性的有效措施。

浅谈多芯片组件（MCM）的可靠性技术

介绍了多芯片组件（MCM）可靠性的研究方法和关键技术，指出多芯片组件（MCM0可靠性研究应以失效物理评价方法为主。