基于电光调制和线性调频去斜的微波光子测距研究

传统的电磁测距受到电子学瓶颈的局限,难以进一步提升工作带宽,导致系统的测距精度受限。本文提出了一种基于电光调制和线性调频去斜的微波光子测距方法,利用马赫-曾德尔调制器获取±1阶调制光边带,通过光电探测产生二倍频的宽带线性调频发射信号,可有效提升系统的距离分辨率;在接收端采用线性调频去斜接收的方法,通过探测中频信号的频率反演获得目标距离信息,可极大地降低对后续模数转换器采样速率的要求。该研究将电光调制、光电探测等基础知识实际应用到微波光子测距中,与科学前沿有机结合,有助于拓展教学内容、提升教学深度,有利于培养学生的科学素养和实践能力。