整流二极管的I_R对HTRB工作寿命的影响

整流器件在工作中的可靠性往往与其漏电流特别是在高温下的漏电流有密切关系,然而对高温下的漏电流往往关注不够。通过对常温与高温漏电流的对比测试,发现两者并没有一致的对应关系;通过对高温漏电流有较大差别的两组样品的高温反偏寿命试验表明:高温漏电流越大,高温反偏寿命越短,说明高温漏电流对高温反偏寿命有重要影响。依据此结果提出了通过对高温漏电流进行测试,实现对高温反偏寿命进行分档、筛选的设想。介绍了利用正向脉冲电流对二极管的pn结进行瞬态加热以实现对高温反向漏电流的快速测试的具体方法。

小封装二极管的热阻测试

随着封装体积的减小,半导体分立器件引线的外露部分也越来越小,这给引线温度的测试带来了巨大挑战。以封装外形为SOD-123FL的小电流整流二极管为例,介绍了结到引线的热阻和结到环境的热阻的测试方法。通过测量焊接于引线端部的小尺寸二极管芯片以及被测样品在不同温度下的热敏电压,实现了对小封装器件的引线温度和二极管本身结温的精密测量。

瞬态热阻测试在贴片二极管在线测试中的应用

表面贴装整流二极管的焊接质量直接影响其可靠性。提出了通过测试与瞬态热阻等价的热敏电压增量来评价焊接质量、筛选焊接不良的产品。利用TRR8000测试仪对样品进行合适条件下的在线筛选,能够有效剔出焊接不良产品,提高表面贴装整流二极管的可靠性。

整流二极管瞬态HTIR测试

整流器件在高温下的漏电流(HTIR)对其工作中的可靠性有重要影响。目前对整流二极管HTIR的测试只限于稳态测试。由于其测试效率低下,不适于制造过程中的快速筛选。利用电流脉冲对整流二极管的pn结瞬态加热并在其后进行快速测试的方法,进行了瞬态HTIR筛选测试实验。与稳态测试进行了对比,结果表明:当瞬态HTIR测试值作为筛选条件确定后,筛选精度与结温以及导致该结温的瞬态加热条件有关,较高的结温有利于提高筛选精度。

一种制造开关器件掺金的新方法

本文讨论了高速在开关器件制造过程中所采用的蒸金工艺的不足。通过实验证实采用新的掺金工艺所生产的开关器件开关参数一致性,以及输出特性均好于前者生产的器件。

单向触发二极管(Uni-DIAC)在自镇流荧光灯中的应用

单向触发二极管(Uni-DIAC)是一种新型的具有非对称特性的器件,本文研究单向触发二极管(Uni-DIAC)替代双向触发二极管(DIAC)在自镇流荧光灯中的应用;比较了与具有对称特性的双向触发二极管(DIAC)在结构上、电特性上的异同;分析了二者在自镇流荧光灯的启动过程、稳态工作过程中的工作状态;进行了启动次数实验,结果表明如果直接用其替换DIAC将不会对自镇流荧光灯中半桥逆变器的启动、振荡的维持产生任何影响,但须注意在电路中连接时的极性。

小功率节能灯专用桥式整流器的脉冲电流分析

无论在节能灯启动的瞬态还是在正常工作的稳态,流过节能灯专用桥式整流器的电流波形均为近似三角形的尖脉冲。开启时的电流脉冲幅度相对于桥的额定电流几乎是无限大,会对桥在启动过程中的可靠性构成潜在威胁。而稳态脉冲电流对桥的可靠性影响主要表现在有可能使结运行在一个高结温上。然而,通过合理的电路设计、根据桥的额定值进行正确选型,均可避免两者对可靠性的影响。

整流器的热失控预测

在使用中或在反向温偏试验中失效的整流器绝大部分失效于热失控。因此研究热失控发生的条件并据此给予预测对其安全使用具有重要意义。以整流器反向漏电流的温度特性及应用或试验系统的散热特性为线索,分析了热失控发生的条件及预测方法。以一个实例验证了该方法是准确且实用的。