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BGA技术 被引量:1
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作者 孙忠新 俞文野 《印制电路信息》 1998年第3期39-42,共4页
BGA作为超大规模集成电路新的封装形式,由于它与细节距QFP相比具许多优点,因而越来越受到人们的重视。本文介绍了BGA的结构特点以及组装,检测和返修工艺。
关键词 球栅阵列 X射线 回流焊 印制板 检测技术 BGA封装 封装形式 超大规模集成电路 组装工艺 焊膏印刷
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一块MCM实现处理器卡
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作者 俞文野 《印制电路信息》 1998年第3期21-21,共1页
据报导一种将含有奔腾处理器。
关键词 奔腾处理器 夹心板 高速缓存 芯片集 PCI 连接器 表面安装器件 便携式设计 元器件 互连线
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芯片级封装(CSP)简介
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作者 俞文野 《印制电路信息》 1998年第3期34-34,共1页
芯片级封装(CSP:Chip-Scale Packa-ge)技术是指封装体面积略大于裸芯片面积(一般不超过1.2倍)的单芯片封装技术。 几十年来主宰、制约电子组装技术发展的芯片小、封装体大。
关键词 芯片级封装 封装体 电子组装 技术发展 封装技术 双列直插式封装 单芯片 裸芯片 芯片封装 九十年代后期
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基板测试的未来
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作者 Don Hague 俞文野 《印制电路信息》 1999年第4期38-40,共3页
非接触电容传感器测试技术将取代移动探针。机械探针和短路橡胶测试技术,以满足高产量和高精度要求。
关键词 非接触 测试技术 基板测试 电容传感器 接触测试 半导体基 焊盘 探针技术 测试结果 短路
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表面安装可焊性试验:——EIA的BGA可焊性标准
5
作者 Willie R 俞文野 《印制电路信息》 1998年第9期40-41,共2页
这是1990年电子工业协会(EIA)的焊接技术委员会建议并起草的方法。这种方法是将焊膏漏印在陶瓷基板上,再在焊膏上安放器件,进行再流焊、待冷却后从陶瓷基板上取下器件,便可进行可焊性检查。该可焊性测试方法优点是各种IC经受相同的再流... 这是1990年电子工业协会(EIA)的焊接技术委员会建议并起草的方法。这种方法是将焊膏漏印在陶瓷基板上,再在焊膏上安放器件,进行再流焊、待冷却后从陶瓷基板上取下器件,便可进行可焊性检查。该可焊性测试方法优点是各种IC经受相同的再流焊环境,陶瓷基板又允许对焊接面进行焊接质量检查。1995年5月,该方法正式被批准为美国国家标准(ANSI/EIA—638)。 展开更多
关键词 可焊性试验 表面安装 陶瓷基板 再流焊接 面积阵列封装 电子工业协会 测试方法 BGA封装 美国国家标准 委员会建议
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正确选择SMT板的测试技术
6
作者 Dan Romanchik 俞文野 《印制电路信息》 1995年第11期24-27,共4页
1 前言 测试含有表面安装元件的PCB组装件是比较困难的。其最大障碍是超出测试探针所能达到的间距。表面安装元件尺寸小——远远小于通孔元件,由于元件尺寸小,它的引脚间距更密,测试夹具的制造变得更为困难。
关键词 边界扫描单元 非向量测试 在线测试技术 边界扫描技术 测试设备 正确选择 自动光学检测技术 表面安装元件 测试图形 测试探针
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细节距SMD的焊接技术
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作者 Craig Biggs 俞文野 《印制电路信息》 1995年第4期18-21,38,共5页
人们乐于采用整体再流焊技术(Mass Ref-low),以焊接装有细节距器件的SMT印制电路板。但是,对于产量较低而成本又非主要考虑的场合,采用某些局部再流焊工艺(Localized Ref-low)会更有效。
关键词 再流焊工艺 再流焊技术 焊接技术 激光再流焊 焊接工艺 再流焊接 组装件 不共平面 制造工程师 引脚
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细节距SMD的焊接技术
8
作者 Biggs.,C 俞文野 《电子元件质量》 1995年第4期18-21,38,共5页
人们乐于采用整体再流焊技术,以焊接装有细节距器件的SMT印制电路板。但是,对于产量较低而成本又非主要考虑的场合,采用某些局部再流焊工艺会更有效。
关键词 表面安装器件 焊接 整体再流焊
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