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题名BGA技术
被引量:1
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作者
孙忠新
俞文野
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机构
江南计算技术研究所
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出处
《印制电路信息》
1998年第3期39-42,共4页
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文摘
BGA作为超大规模集成电路新的封装形式,由于它与细节距QFP相比具许多优点,因而越来越受到人们的重视。本文介绍了BGA的结构特点以及组装,检测和返修工艺。
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关键词
球栅阵列
X射线
回流焊
印制板
检测技术
BGA封装
封装形式
超大规模集成电路
组装工艺
焊膏印刷
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分类号
TN405
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名一块MCM实现处理器卡
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作者
俞文野
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机构
江南所
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出处
《印制电路信息》
1998年第3期21-21,共1页
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文摘
据报导一种将含有奔腾处理器。
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关键词
奔腾处理器
夹心板
高速缓存
芯片集
PCI
连接器
表面安装器件
便携式设计
元器件
互连线
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分类号
TN405
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名芯片级封装(CSP)简介
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作者
俞文野
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出处
《印制电路信息》
1998年第3期34-34,共1页
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文摘
芯片级封装(CSP:Chip-Scale Packa-ge)技术是指封装体面积略大于裸芯片面积(一般不超过1.2倍)的单芯片封装技术。 几十年来主宰、制约电子组装技术发展的芯片小、封装体大。
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关键词
芯片级封装
封装体
电子组装
技术发展
封装技术
双列直插式封装
单芯片
裸芯片
芯片封装
九十年代后期
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分类号
TN405
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名基板测试的未来
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作者
Don Hague
俞文野
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出处
《印制电路信息》
1999年第4期38-40,共3页
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文摘
非接触电容传感器测试技术将取代移动探针。机械探针和短路橡胶测试技术,以满足高产量和高精度要求。
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关键词
非接触
测试技术
基板测试
电容传感器
接触测试
半导体基
焊盘
探针技术
测试结果
短路
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名表面安装可焊性试验:——EIA的BGA可焊性标准
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作者
Willie R
俞文野
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出处
《印制电路信息》
1998年第9期40-41,共2页
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文摘
这是1990年电子工业协会(EIA)的焊接技术委员会建议并起草的方法。这种方法是将焊膏漏印在陶瓷基板上,再在焊膏上安放器件,进行再流焊、待冷却后从陶瓷基板上取下器件,便可进行可焊性检查。该可焊性测试方法优点是各种IC经受相同的再流焊环境,陶瓷基板又允许对焊接面进行焊接质量检查。1995年5月,该方法正式被批准为美国国家标准(ANSI/EIA—638)。
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关键词
可焊性试验
表面安装
陶瓷基板
再流焊接
面积阵列封装
电子工业协会
测试方法
BGA封装
美国国家标准
委员会建议
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分类号
TN405
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名正确选择SMT板的测试技术
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作者
Dan Romanchik
俞文野
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出处
《印制电路信息》
1995年第11期24-27,共4页
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文摘
1 前言 测试含有表面安装元件的PCB组装件是比较困难的。其最大障碍是超出测试探针所能达到的间距。表面安装元件尺寸小——远远小于通孔元件,由于元件尺寸小,它的引脚间距更密,测试夹具的制造变得更为困难。
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关键词
边界扫描单元
非向量测试
在线测试技术
边界扫描技术
测试设备
正确选择
自动光学检测技术
表面安装元件
测试图形
测试探针
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名细节距SMD的焊接技术
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作者
Craig Biggs
俞文野
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出处
《印制电路信息》
1995年第4期18-21,38,共5页
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文摘
人们乐于采用整体再流焊技术(Mass Ref-low),以焊接装有细节距器件的SMT印制电路板。但是,对于产量较低而成本又非主要考虑的场合,采用某些局部再流焊工艺(Localized Ref-low)会更有效。
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关键词
再流焊工艺
再流焊技术
焊接技术
激光再流焊
焊接工艺
再流焊接
组装件
不共平面
制造工程师
引脚
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分类号
TN405
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名细节距SMD的焊接技术
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作者
Biggs.,C
俞文野
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出处
《电子元件质量》
1995年第4期18-21,38,共5页
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文摘
人们乐于采用整体再流焊技术,以焊接装有细节距器件的SMT印制电路板。但是,对于产量较低而成本又非主要考虑的场合,采用某些局部再流焊工艺会更有效。
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关键词
表面安装器件
焊接
整体再流焊
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分类号
TN420.5
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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