应用X荧光仪快速测定铁矿石品位

文章确定了便携式X荧光仪测量铁矿石的工作状态,并分析了相关的基体效应,在此基础上建立矫正曲线。最后测量值与化学分析参考值之间的相对误差在正负3.6%内,便携式X荧光分析仪能快速精准测量铁矿石品位。