期刊文献+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
一种测量子电路参数的新方法(英文)
1
作者 元录 杨文霞 《南开大学学报（自然科学版）》 CAS CSCD 北大核心 2000年第2期119-120,共2页
本文提出了一种测量子电路参数的新方法 .通过将待测子电路的影响视为系统误差 ,再经过校准过程而消除之 .此方法无需拆下子电路 ,因此精度高 ,操作简便 .
关键词 S参数 校准 子电路参数 测量 电子电路
下载PDF
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
上一页 1 下一页 到第 页
使用帮助 返回顶部