基于低温辐射计的探测器绝对光谱响应率测量

探测器的绝对光谱响应率是衡量光电探测器性能优劣的重要参数,直接反映其光电转化的能力。通过对低温辐射计,功率稳定系统光路调整的介绍,基于低温辐射计,对探测器可见光范围的7个波长的绝对光谱响应率进行了高精度测量,分析了测量结果。

光纤功率计非线性因子测量的优化设计研究

对光纤功率计非线性因子测量系统进行了优化设计。在理论分析和实验验证的基础上,优化了光路系统,抑制了光的干涉效应对光功率稳定性的影响,进行了实验验证;由光衰减器代替快门进行光的通断控制,扩展了测量范围,可以实现通用光纤功率计非线性因子的全量程测量。

保偏光纤截止波长校准装置研制

分析给出了保偏光纤截止波长测量的实现方法,通过解决可变波长单色偏振光产生技术和测量过程中保偏光纤的对轴耦合技术,研究建立了保偏光纤截止波长校准装置,分析验证了测量结果和装置的性能,为统一保偏光纤截止波长参数量值奠定了基础。

保偏光纤截止波长测量技术研究

研究了保偏光纤截止波长的测量技术,给出了保偏光纤截止波长测量的实现方法,建立了测量装置,实现了不同类型保偏光纤快慢轴截止波长的分别测量,通过实验验证,对影响保偏光纤截止波长测量结果的主要因素进行了分析。研究建立的测量系统,对保偏光纤科研生产厂家开展相关测试具有一定的参考意义。

高精度偏振依赖损耗自动测试系统

光学器件的偏振依赖损耗（PDL）是发展光纤通信必须克服的关键技术之一。该文介绍了一种新型的高精度偏振依赖损耗自动测试系统，系统中采用耦合器和监测功率计，实现了单次接入即可完成偏振依赖损耗的测量，消除了系统光功率稳定性对测试结果的影响。在同一系统中，可实现多种方法测试偏振依赖损耗，采用偏振控制器的延迟补偿技术实现了全波段内的偏振依赖损耗高精度测试。系统工作波长范围为1200～1600nm，偏振依赖损耗测量范围0～5dB，测量不确定度高达0．005dB＋PDL×4％，可满足各种光学器件偏振依赖损耗测试需要。

光无源器件偏振依赖损耗的测试方法

介绍了光无源器件偏振依赖损耗的几种测试方法,并对它们的优缺点进行了比较。

铷吸收半导体激光稳频光波长标准研究

文中介绍了用铷吸收光谱法对半导体激光器进行稳频,从而稳定其输出波长;通过对包括半导体激光驱动源、稳频器、吸收室、光路等系统的优化设计,达到具有高信噪比微分误差信号,从而大大提高了半导体激光器稳频锁定灵敏度和长期稳定性。采用文中介绍的方法建立的光波长标准系统,其波长的测量重复性、稳定性可满足当前和将来很长一段时间光波长计校准的需要。

叠加法测量光纤功率计非线性

介绍了全光纤化光纤功率计非线性的宽动态范围测量系统,利用该系统可以测量光纤功率计相邻量程的不连续性。文中给出了具体测量数据,并对测量结果进行了不确定度分析。

铷吸收半导体激光稳频光波长标准研究

介绍了用铷吸收光谱法对半导体激光器进行稳频,通过对包括半导体激光驱动源、稳频器、吸收室、光路等系统的优化设计,达到具有高信噪比微分误差信号,从而大大提高了半导体激光器稳频锁定灵敏度和长期稳定性。采用文中介绍的方法建立的光波长标准系统,其波长的测量重复性、稳定性可满足当前和将来很长一段时间光波长计校准的需要。