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题名高速PCB设计及制造过程中插入损耗影响规律研究
被引量:5
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作者
彭镜辉
向参军
兰富民
郑剑坤
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机构
广合科技(广州)有限公司
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出处
《印制电路信息》
2017年第A02期18-26,共9页
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文摘
文章主要基于对插入损耗在印制线路板不同设计及制作条件下进行损耗的测定,提取出目前Intel Purley平台EP及EX等级材料的插入损耗在不同设计及制造过程中的变化情况,为印制线路板在制造过程中的的插入损耗的控制提供了基本的指引.
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关键词
插入损耗
线宽
间距
棕化
铜厚
介质厚度
油墨厚度
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Keywords
Insertion Loss
Line Width
Line Space
Brown Oxide
Copper Thickness
Dielectric Thickness
Solder Mask Thickness
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分类号
TN41
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名压合条件对层偏的影响量化研究
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作者
金文雄
黎钦源
兰富民
韩明
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机构
广合科技(广州)有限公司
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出处
《印制电路信息》
2016年第A02期273-280,共8页
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基金
致谢:本课题在研究过程中由黎钦源总工的悉心指导完成,同时得到汤相平先生的大力支持与协助,在此表示感谢.
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文摘
传统刚性板的层偏的影响因素有很多,从板材涨缩,PE内层拉伸系数,内层曝光对准度,AOI冲孔精度,一直到层压铆合/融合/压合,每个厂商都有各自的一整套控制系统,针对压合这段流程对层偏的影响,本文专门针对压合条件进行识别,通过DOE的方式完成压合条件对层偏影响的量化数据分析,从而为指定压合生产条件,减少层偏给出了指引方向。
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关键词
层偏
温升
转压点
高压压力
中压压力
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Keywords
Mis-Registration
Heating Up Rate
Turing Temperature
High-Pressure
Mid-Pressure
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分类号
TN41
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名高速板料的棕化及微蚀量与抗剥离强度关系研究
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作者
郑剑坤
彭镜辉
兰富民
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机构
广合科技(广州)有限公司
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出处
《印制电路信息》
2019年第8期21-26,共6页
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文摘
随着高速材料的发展,在FR4的体系中通过填入填料来降低Df,随之而来的是材料的抗剥离强度也随之下降。文章运用DOE法,针对高速覆铜板棕化后的抗剥离强度测试及微蚀量的控制关系进行研究,并进行不同参数的DOE拉力测试验证,得到最佳工艺参数。
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关键词
高速材料
棕化
抗剥离强度
微蚀量
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Keywords
High Speed Material
Brown Oxide
Peeling Strength
Micro Etching Rate
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分类号
TN41
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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