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首钢日电前工序工艺技术和未来发展
1
作者
叶建新
饶祖刚
+1 位作者
陈则瑞
关东红
《中国集成电路》
2002年第3期73-76,共4页
本文综述了亚微米、深亚微米集成电路工艺的主要特点、关键工艺及其实现方法,涉及高低压混载CMOS、DMOS、E^2PROM工艺。
关键词
亚微米工艺
工艺技术
平坦化
金属布线
接触孔
深亚微米
技术升级
高压器件
氧化膜
超大规模集成电路
下载PDF
职称材料
SGNEC前工序工艺技术和未来发展
2
作者
叶建新
饶祖刚
+1 位作者
陈则瑞
关东红
《集成电路应用》
2002年第11期65-68,共4页
本文综述了亚微米、深亚微米集成电路工艺的主要特点、关键工艺及其实现方法,涉及高低压混载CMOS、DMOS、E^2PROM工艺。
关键词
SGNEC
亚微米
深亚微米
集成电路
CMOS
DMOS
E^2PROM
首钢日电电子有限公司
下载PDF
职称材料
题名
首钢日电前工序工艺技术和未来发展
1
作者
叶建新
饶祖刚
陈则瑞
关东红
机构
首钢日电电子有限公司
出处
《中国集成电路》
2002年第3期73-76,共4页
文摘
本文综述了亚微米、深亚微米集成电路工艺的主要特点、关键工艺及其实现方法,涉及高低压混载CMOS、DMOS、E^2PROM工艺。
关键词
亚微米工艺
工艺技术
平坦化
金属布线
接触孔
深亚微米
技术升级
高压器件
氧化膜
超大规模集成电路
分类号
F426.6 [经济管理—产业经济]
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职称材料
题名
SGNEC前工序工艺技术和未来发展
2
作者
叶建新
饶祖刚
陈则瑞
关东红
机构
首钢日电电子有限公司
出处
《集成电路应用》
2002年第11期65-68,共4页
文摘
本文综述了亚微米、深亚微米集成电路工艺的主要特点、关键工艺及其实现方法,涉及高低压混载CMOS、DMOS、E^2PROM工艺。
关键词
SGNEC
亚微米
深亚微米
集成电路
CMOS
DMOS
E^2PROM
首钢日电电子有限公司
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
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出处
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1
首钢日电前工序工艺技术和未来发展
叶建新
饶祖刚
陈则瑞
关东红
《中国集成电路》
2002
0
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职称材料
2
SGNEC前工序工艺技术和未来发展
叶建新
饶祖刚
陈则瑞
关东红
《集成电路应用》
2002
0
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