氧空穴在BaMgAl10O17荧光粉的能量转移过程中的作用

研究不掺杂和掺Eu的BaMgAl10O17(BAM)荧光粉在真空紫外激发的光致发光(PL)、热致发光(TL)性能。研究发现不掺杂的BAM发射的空穴与缺陷产生的电子陷阱有很大的关系。我们认为这些缺陷与BAM空穴导电层的氧空穴有关。我们还认为掺了Eu2+的BAM主体存在着缺陷。基于这些结果,我们提出了一种真空紫外激发BAM:Eu2+荧光粉的能量转移模型。