液晶器件用高二向色性偶氮染料的研究

通过重氮化反应和耦合反应合成了一种新的液晶显示用高二向色性偶氮染料A,用质谱、核磁共振谱对染料结构进行了表征,并研究了染料的二向色性和紫外吸收波谱。结果表明,染料A的二向色性D‖/D⊥达到7.5,λmax=475 nm。通过对A的分子结构改变,我们在A的基础上对A的尾链进行了改进,得到另一新的高二向色性偶氮染料A*,它的D‖/D⊥达到18.0,是目前报道过的二向色性染料材料的最高值。

用干湿球计测干燥操作中空气湿度

研制了一种新的湿球温度计,它可以克服原干湿球湿度计测量精度难以保证的缺点,使α/k_H值的误差保持在±30％。而且还建立了一套在空气连续流动情况下,标定湿度计的装置。本研究成果为实现干燥操作过程中尾气湿度的在线测量与控制奠定了基础。

具有半“V”字型特性的铁电液晶显示器件制备

采用N*-Sc*序列相铁电液晶,通过在N*-Sc*相变时施加直流电压,得到了半"V"字型的电光特性曲线,可以实现连续灰度;同时解决了表面稳定铁电液晶中存在的液晶层倾斜方向不惟一的缺陷,获得了无缺陷排列取向的铁电液晶器件。该器件具有较低的饱和电压3.2V,静态对比度达196∶1,上升时间和下降时间分别是526μs和424μs。

工程实验研究中试验设计方法的应用

试验设计方法已在科研中被普遍采用。本文通过两个具体例子说明应用正交试验法可以只做少量的实验却得到较多的很有意义的结果,并讨论了如何选用适宜的正交表和正交试验结果的可靠性问题。还建议几种试验设计方法相继应用,以提高研究成果的质量。

开设《化工技术基础实验》的实践

用人部门对当前大学生的不足之处,认为一是缺乏科学作风和求实精神,二是重理论轻实践,实际工作能力差。这两个问题都与整个大学期间实验课教学的情况密切相关。比如我系原化工原理实验课,由于其教学目的只是为化工原理课程教学服务,实验结果所要验证或说明的问题,在实验之前已知道,学生做实验时,只关心取下数据,写好报告交上就算完事。实验教学比较僵化。

现代大学的化工实验室

美国对化工实验室发展情况经常作调查研究,他们认为在化工工程师的培养中,实验室总是起着重要的作用。历史上总认为实验室是工程师真正学习工程的课堂。那末在今天,实验室还仅起这样的作用吗?现代实验室建设的目的是什么呢?最新发展趋向又是什么呢?1978年他们调查了在美国和加拿大的化工系实验室。从五十多个大学中汇总了一百多位回答问题者的看法。

预倾角对超扭曲向列相液晶显示的影响

超扭曲向列相液晶显示(STN-LCD)在实际应用中经常会出现一种由周期性条纹织构引起的晶畴,这种晶畴引起光散射使显示性能下降。采用4种不同的PI作为超扭曲向列相(STN)液晶盒的取向膜,在相同的条件下用摩擦法取向并制成盒后用偏光显微镜观察,发现不同PI取向的盒其均匀性有显著差异,有的盒中有晶畴出现,有的盒则显示出了良好的均匀性。晶体旋转法测量结果表明,不同PI引起不同的预倾角,取向均匀的盒所用PI产生的预倾角比其他PI产生的预倾角要大3°左右。分析认为,较大的预倾角抑制了晶畴的产生,在合适的d/p值下,预倾角只要达到5°以上时即可以有效地抑制条纹的产生,满足生产要求,为解决STN-LCD存在的晶畴问题提供了依据和方法。

一种新型硅基液晶微显示器件像素电路的研究

设计了一种新型硅基微显示器件场缓存像素电路结构,并通过SPICE模拟与其他像素电路做比较,分析了其电路特点。新型像素结构可使在电压保持期间影响液晶电容电压的晶体管数量降到最低,从而提高了像素电容的电压保持率,降低了闪烁,并减小了电磁干扰对像素电压的影响,提高了器件可靠性,同时提高了对光照的承受能力及对温度变化的适应能力,改善了显示品质,适用于高亮度显示器件。

流化床干燥器中临界湿含量测定

介绍用气相法和固相法测定流化状态下物料临界湿含量的方法，并将实验结果与洞道式干燥器中测得的数据做了比较。结果表明，用气相法测定流化状态下物料临界湿含量具有操作简便、快速和省料的优点。

改进的极向锚定强度测量方法

介绍一种测量液晶表面极向锚定强度的方法,通过同步测量线性偏振光经过混合排列的楔形液晶盒的相位及外加电压值,经过数值处理,得到表面极向锚定强度。使用混合排列液晶盒,简化了计算及测量步骤;使用楔形盒并用不同点的厚度差值代替厚度值计算,减小了由于厚度测量误差引起的干扰,提高了测量精度。

LCoS微显示驱动芯片表面形貌研究与改进

介绍了LCoS技术的特点与发展现状,LCoS性能的优劣与硅基片平整度有直接关系,着重进行了LCoS微显示驱动技术表面形貌的研究与改进。通过严格控制工艺步骤,降低台阶高度;合理设计版图布局,使台阶叠加在隔离像素区域的沟槽中,这样既能实现像素电极区域的局部平坦化,又因为沟槽不作为显示区域,对整体显示效果影响较小。

采用复合催化剂体系制备PDLC及其性能研究

提出一种采用复合催化剂体系制备聚合物分散液晶(PDLC)膜的新方法。复合催化剂体系由安息香双甲醚和二月桂酸二丁基锡组成,选用聚氨酯丙烯酸酯材料,以光聚合引发相分离的方法制备PDLC膜。研究了复合催化剂体系对PDLC膜的微观形貌、电光性能等方面的影响,以及催化剂的含量对所制备的PDLC膜的显示性能的影响。研究发现:与采用单一催化剂的方法相比,在相分离过程中采用复合催化剂体系能够减小聚合物网络表壁对液晶分子的锚定强度,增大聚合物网络的交联密度,进而降低了PDLC膜的饱和电压,减小了薄膜的关态透光率,显著改善其电光特性;实验中复合催化剂的最佳浓度为4%(质量分数)。

单倍盒厚间距垂直排列和混合排列半透半反式液晶显示模式

提出了一种采用垂直排列模式与混合排列模式相搭配的单倍盒间距的半透半反式液晶显示模式,液晶材料为负性。基于液晶分子的初始取向,反射区为混合排列模式,其关态和开态有效相位延迟在π/2和π之间变化;透射区为平行排列模式,其关态和开态有效相位延迟在0和π之间变化。采用半波延迟膜补偿的方法可以使器件工作于常黑模式。对于透射区下层偏振片吸收轴和上层偏振片吸收轴分别平行和垂直放置时,下层的半波延迟膜光轴的方位角不同,导致光谱响应曲线和视角锥对比度分布不同。用扩展琼斯矩阵方法模拟分析了这两种器件结构的电光响应及光谱响应特性以及视角锥对比度分布特性。

多维液晶指向矢的数值模拟计算

从Oseen-Frank弹性连续体理论出发,用有限差分和张弛法详细地介绍了求解三维液晶指向矢的方法,并给出程序流程图,程序运行过程中发现具有速度快、稳定性好、精确度高的特点,适合于求解复杂的液晶结构。文章最后基于此方法针对LCoS中指向矢的分布进行了简单的模拟,给出了两相邻显示像素的指向矢分布图形,网格划分为50×50×20个节点,在Pentium4,2.8GHz的计算机上求解需564.36s。

一种新的测量扭曲向列相液晶盒盒厚和扭曲角的Stokes矢量法

提出了一种新的测量扭曲向列相液晶盒盒厚和扭曲角的Stokes矢量法。根据Jones矩阵推导出了Stokes矢量与液晶盒参数的关系,其原理是通过确定经过液晶盒之后偏振光的偏振特性来求解液晶盒盒厚和扭曲角。该方法在测量一个Stokes矢量时,在液晶盒后依次放两种波片,目的是改变经过液晶盒后的光的偏振态,再置一偏振分光棱镜分开水平Ip和垂直Is线偏振分量,测得两组光强,根据公式算得该Stokes矢量,从而求解液晶盒盒厚以及扭曲角。实验中我们用该方法测量了不同盒厚、扭曲角度的TN液晶盒。实验结果证明该方法可行,结果准确,并且可以测量盒厚较小的液晶盒。最后,我们理论分析了实验误差。

QVGA硅基液晶微显示

设计了QVGA分辨力硅基液晶(Liquid Crystal on Silicon)微显示芯片,采用比较器与计数器相结合的D/A转换方式,降低了芯片的功耗和电路的设计难度;设计了QVGA微显示芯片视频驱动系统,以CPLD为核心控制单元搭建了视频显示驱动板,接收计算机输出的VGA显示信号,经过控制单元进行行列变换与时序处理,驱动LCoS微显示芯片显示视频图像,测试结果表明显示芯片像素点灰度响应正确,符合液晶材料要求,能够显示分辨力320×240、帧频60Hz的动态视频,视频显示响应速度快,显示功能符合设计要求。

PDLC的膜厚对其性能的影响

用光聚合相分离的方法制备了不同厚度的聚合物分散液晶(PDLC)膜,研究了膜厚对于PDLC膜形态和电光性能各方面的影响,考察了不同厚度PDLC膜的聚合物网络形貌、饱和电压及对比度等方面。研究发现随着膜厚的增加,PDLC膜中聚合物网络的网眼分布均匀;其暗态的透过率降低,对比度明显增大;PDLC膜的饱和电压也随着膜厚的增加而升高。试验结果表明,当膜厚在30μm左右时,PDLC膜综合性能较好。

平行-混合排列透反式液晶显示模式的原理研究

为了同时获得具有高透射率和反射率的液晶显示器,提出了一种采用平行排列模式与混合排列模式相搭配的单倍盒间距的透反式液晶显示模式.基于液晶盒的初始取向,反射区为混合排列模式,其光程差为透射区平行排列模式的一半.利用单轴膜补偿的方法可以实现宽光谱响应,并且采用不同相位延迟的补偿膜可以使器件工作于常黑模式和常白模式.模拟结果表明:两种工作模式均可实现宽光谱响应,透射与反射电光响应曲线基本趋于一致;在40°方位角度范围内具有很好的可视特性,无灰度反转.

快速测量扭曲向列相液晶盒盒厚

提出了一种利用圆偏光仪测量扭曲向列相液晶盒盒厚的新方法,即:圆偏光仪组成为两端是一对起偏器和检偏器,中间放置一对四分之一波片.起偏器和检偏器平行或垂直放置,其中一个四分之一波片的快轴和起偏器透光轴成45°,另一个四分之一波片的快轴和起偏器透光轴成-45°.液晶盒样品直接插入到两四分之一波片中间,无需调整方向.不同于旋转液晶盒或偏振片寻找输出光强最大值或最小值的方法,圆偏光仪测量盒厚不需要旋转任何光学元件或液晶盒观测输出光强的变化,只需要观测检偏器在平行和垂直方向的两个强度值,能够实现快速测量,简洁而且有效.