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化学溶液沉积法制备Pb_(0.5)Ba_(0.5)TiO_3薄膜的结构及电学性能研究
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作者 陈如麒 朱贵文 刘为方 《中山大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2012年第6期78-81,共4页
采用化学溶液沉积法在Pt/TiO2/SiO2/Si基片上制备钛酸铅钡Pb0.5Ba0.5TiO3(PBT)薄膜。薄膜呈纯钙钛矿结构,无杂相生成。此外,薄膜表面光滑致密、没有微裂痕.薄膜得到的晶粒尺寸较小,约为17 nm。在700℃1 h退火的薄膜有良好的电学特性,在1... 采用化学溶液沉积法在Pt/TiO2/SiO2/Si基片上制备钛酸铅钡Pb0.5Ba0.5TiO3(PBT)薄膜。薄膜呈纯钙钛矿结构,无杂相生成。此外,薄膜表面光滑致密、没有微裂痕.薄膜得到的晶粒尺寸较小,约为17 nm。在700℃1 h退火的薄膜有良好的电学特性,在1 kHz频率下测量得到的介电常数、损耗因子分别约为265和5%;此外,在500 kV/cm电场驱动下,薄膜得到的剩余极化(2Pr)约为16μC/cm2,矫顽电场(Ec)约为110 kV/cm。这些结果表明,PBT固溶体薄膜有望成为铁电器件的候选材料。 展开更多
关键词 钛酸铅钡 PBT 介电 铁电 化学溶液沉积法
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