电子设备热循环加速可靠性试验研究与应用

本文分析了电子设备热循环失效机理,介绍焊点热循环失效的Engelmaier-Wild寿命模型。应用Engelmaier-Wild寿命模型,本文提出了一种电子设备热循环加速可靠性试验方案。通过某电路板热循环加速可靠性试验案例及其试验数据,验证了Engelmaier-Wild寿命模型应用在电子设备热循环加速可靠性试验的适用性。

开国纪念章唤起的回忆

这枚标有“1949.10.1”的“中华人民共和国中央人民政府成立纪念”章,伴随着我历经了时代的风风雨雨,在身边已珍藏了50个年头。我在时隔半个世纪后的今天望着它,当年开国大典举行前后的许多往事,便会立即清晰地浮现在眼前。