从低速存储器到高速FPGA配置的位流解压缩

如果配置FPGA的位流很大,存储位流的存储器就会需要更大的空间,同时配置时间也会很长。为了节约存储空间和提高配置速度,提出了一种解决途径,即在存储芯片(比如Flash存储器)内嵌一个解压缩结构。为了实现这个目标,讨论了两种压缩算法:PDLZW和LZSS。通过对这两种算法的改进,使其适合设计的要求:好的压缩比,解压缩器消耗硬件资源少和有较好的数据吞吐率。实验表明,提出的压缩和解压缩算法,不仅可以减少近30%的存储空间,还能提高将近一倍的数据输出速率。

一种用于可编程逻辑的阵列的单粒子翻转试验系统设计研究

单粒子翻转(SEU)试验是测试FPGA芯片抗单粒子翻转性能的重要方法。提出了一种用于测试FPGA芯片抗单粒子翻转性能的试验系统;该系统通过比对待测FPGA芯片输出数据序列和正确数据来判断是否发生数据翻转。如果发生数据翻转,则进一步统计翻转次数和翻转性质,从而能够较全面的测试FPGA芯片的抗单粒子翻转性能。运用该试验系统对某款FPGA芯片进行了单粒子翻转试验,测试结果显示该试验系统能够正确评估被测芯片的抗单粒子翻转性能。