高精度弹载压力测试系统的设计与改善

针对弹载压力测试过程中,传感器易受复杂多变的测试环境的影响从而导致测试结果与实际值偏差较大的问题,分析、设计了一套用于复杂环境温度下的高精度弹载压力测试系统,并对其进行了实验测试,将其测试结果与常规压力测试系统的输出进行了对比分析。结果证明该弹载压力测试系统的满量程最大相对误差为0.0256,仅为常规压力测试最大误差的1/4。为满足更高精度的测试要求,采用二次补偿的方式完成了对原有测试系统的改进,并对改进前后的测试系统进行测试试验分析。结果表明,改进后的弹载压力测试系统的满量程最大相对误差降低为0.0048,测试精度较改进前提高一个数量级。

基于阈值频率的激光超声缺陷检测

针对激光超声技术难以定量分析、检测金属样品缺陷的问题,根据不同缺陷深度处反射与透射表面波的频率交叉现象,提出了阈值频率,研究了表面缺陷深度与其对应波长的关系。通过小波分解和频谱分析,探讨和分析了反射波和透射波在频谱能量图中的波形分布特征。结果表明:由阈值频率计算的波长与缺陷深度之间的关系(即λ=4 h)与理论数据分析结果吻合良好;并随着缺陷深度的增加,波长也随之表现出线性增加的特性。由此可见,该分析方法达到了预期的效果,为表面缺陷深度的进一步定量表征提供了参考方向。

一种具备MBIST功能的Flash型FPGA配置芯片设计

Flash型FPGA配置芯片相较于反熔丝配置芯片和可擦除可编程只读存储器(EPROM)型配置芯片,具有非易失性、功耗低、安全性高、可多次编程等更优异的特点。设计了一款具备存储器内建自测试(MBIST)功能的Flash型FPGA配置芯片,在March C-的基础上,提出了一种更全面的测试算法,该算法可以有效提高测试故障覆盖率,并且自身会对测试结果的正确性进行判断,从而快速有效地对Flash功能的正确性进行检验。由于Flash具有非易失性、集成度高等特点,且设计具备MBIST功能,该配置芯片可以满足复杂场景及广泛的应用需求。

基于HHT的激光超声缺陷检测分析

为解决激光超声技术对现代工业中零部件缺陷的快速分析、检测的问题,本文经多次试验提取了不同缺陷深度下超声表面波信号,并对信号进行截取、去噪、平滑等预处理;通过HHT对预处理后反射回波信号的计算分析,获取不同缺陷深度的反射回波的各阶IMF以及Hilbert能量谱和Hilbert边际谱,并从中对信号的时频域特征信息进行提取分析。结果表明:缺陷的加深使得相邻波峰波谷的最大倾斜率逐渐减小,信号的IMF2分量的中心频率及能量随之呈增长趋势,信号低频部分能量呈指数增长,对总能量贡献率增大,信号的幅频波动变得平稳,收敛频率减小,信号的幅频收敛性变得更好。