富勒烯晶体的正电子湮没寿命

系统研究了室温下石墨及富勒烯晶体的正电子湮没寿命，发现Ｃ６０及Ｃ６０／Ｃ７０的寿命值分别为３７９ｐｓ和３８８ｐｓ，并给出纯Ｃ７０的双寿命拟合值为２５８ｐｓ和４１０ｐｓ．

γ-辐照对 GH33A 镍基高温合金蠕变性能的影响

测量了γ－辐照对ＧＨ３３Ａ镍基高温合金蠕变性能影响的蠕变曲线、正电子寿命谱和Ｄｏｐｐｌｅｒ展宽谱。结果表明：无镁样品辐照后，塑性提高３８．１％，断裂寿命不变，而含镁（０．００４５％）样品辐照后，断裂寿命和塑性均下降；辐照的无镁样品经负蠕变后加载，断裂寿命增加９．４％，塑性下降２５．６％；辐照的长期时效含镁（０．００５４％）样品经负蠕变后再加载，断裂寿命显著增加（４８．３％），同时塑性保持不变。

钠米材料Fe＿2O＿3微结构的正电子寿命谱学研究

用Ｘ射线衍射确定了纳米材料Ｆｅ＿２Ｏ＿３的平均粒径。测量了正电子的寿命。给出了平均粒径随退火温度的变化和短寿命成分τ＿１、中等寿命成分τ＿２以及它们的强度比Ｉ＿２／Ｉ＿１随平均粒径的变化。讨论了纳米材料Ｆｅ＿２Ｏ＿３的界面结构、平均正电子寿命τ与多普勒展宽谱Ｓ参效间的对应关系。

磁光晶体MCDS及MCBS的测量

本文介绍了用光学多道分析器(OSMA),测量磁光晶体的磁圆二向色谱(MCDS),及磁圆振双折射谱(MCBS)的工作,被测磁光晶体是(BiTm)_3-(FeGa)_5O_(12)磁光单晶薄膜。用斯托克斯参数原理测量,测得数据,用Lotus软件包处理。所得结果较为精确,且与目前已有的理论分析符合较好。