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La掺杂对Sr_2Bi_4Ti_5O_(18)铁电陶瓷性能的影响 被引量:8
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作者 卢网平 朱骏 +2 位作者 惠荣 陆文峰 陈小兵 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第5期562-563,566,共3页
 利用传统的固相烧结工艺制备了Sr2LaxBi4-xTi5O18(x=0.00、0.05、0.1、0.25、0.5、0.75、1.00)陶瓷样品。用X射线衍射对其微结构进行了分析,并测量了其铁电、介电性能。X射线衍射结果表明La掺杂对Sr2Bi4Ti5O18的晶体结构几乎没有影响...  利用传统的固相烧结工艺制备了Sr2LaxBi4-xTi5O18(x=0.00、0.05、0.1、0.25、0.5、0.75、1.00)陶瓷样品。用X射线衍射对其微结构进行了分析,并测量了其铁电、介电性能。X射线衍射结果表明La掺杂对Sr2Bi4Ti5O18的晶体结构几乎没有影响。样品的铁电、介电结果表明,随着La掺杂量的增加,样品的剩余极化(2Pr)和矫顽场(Ec)逐渐减小,这是由于离子半径较大的La取代类钙钛矿层A位Bi离子,使得样品晶格畸变变小,从而导致2Pr降低,晶格畸变的减小也使得沿着外电场方向氧八面体中的阳离子更易运动,导致Ec减小。样品的相变温度Tc随着La含量的增加而降低,这也与样品晶格畸变有关。 展开更多
关键词 Sr2Bi4Ti5O18 铁电陶瓷 铁电性能 氧空位 晶格畸变 相变温度 掺杂
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Sr_2Bi_(4-x)La_xTi_5O_(18)铁电陶瓷性能的研究
2
作者 卢网平 朱骏 +2 位作者 惠荣 陆文峰 陈小兵 《哈尔滨理工大学学报》 CAS 2002年第6期102-104,共3页
采用固相烧结工艺制备了Sr_2Bi_4-xLaxTi_5O_18(x=0.00,0.10,0.25,0.50,0.75,1.00)陶瓷样品.用X射线衍射仪对其微结构进行了分析,并测量了其铁电、介电性能.结果表明,随着La含量的增加,样品的剩余极化P_r和矫顽场E_c逐渐减小,这是由于L... 采用固相烧结工艺制备了Sr_2Bi_4-xLaxTi_5O_18(x=0.00,0.10,0.25,0.50,0.75,1.00)陶瓷样品.用X射线衍射仪对其微结构进行了分析,并测量了其铁电、介电性能.结果表明,随着La含量的增加,样品的剩余极化P_r和矫顽场E_c逐渐减小,这是由于La掺杂使得样品晶格畸变变小,从而导致剩余极化的降低.相变温度T_c随着La含量的增加而降低,这也与样品晶格畸变有关. 展开更多
关键词 铁电陶瓷 Sr2Bi4Ti5O18 晶格畸变 铁电性能 相变温度 钛酸锶钛 镧掺杂 LA掺杂
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Bi含量对SrBi_4Ti_4O_(15)铁电材料性能的影响 被引量:5
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作者 朱骏 毛翔宇 +3 位作者 卢网平 惠荣 陆文峰 陈小兵 《扬州大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 2003年第1期33-36,共4页
SrBi 4 Ti 4O 15 ceramics samples with different Bi content of which mole radio, n (Sr): n (Bi): n (Ti):,is 1:4(1+x):4(x=-0.05,0,0.05,0.10,0.15,0.20),are prepared by solid-state reaction method.Their structure is analy... SrBi 4 Ti 4O 15 ceramics samples with different Bi content of which mole radio, n (Sr): n (Bi): n (Ti):,is 1:4(1+x):4(x=-0.05,0,0.05,0.10,0.15,0.20),are prepared by solid-state reaction method.Their structure is analyzed by X-ray diffraction,and their dielectricity and ferroelectricity are measured.Results show that pure SrBi 4 Ti 4O 15 pahase exists in the samples whith x=0.05 and 0.10.The sintered ceramics with x=0.05 have good ferroelectric and dielectric properties:The remnant polarization (2 P r) and coercive field ( E c) are 2.86×10 -9 C·m -2 and 8.65×10 6V·m -1 .The dielectric constant (ε r) changes litter in the range from 1 kHz to 4MHz,and ε r is 425 at the frequency of 1 MHz. 展开更多
关键词 SrBi4Ti4O15铁电材料 介电性能 铁电性能 剩余极化强度 矫顽电场强度
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近化学计量比铌酸锂晶体组分过冷与临界生长速率研究 被引量:3
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作者 郑燕青 施尔畏 +5 位作者 王绍华 陈辉 卢网平 孔海宽 陈建军 路治平 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第4期571-575,共5页
本文在用双坩埚提拉法生长近化学计量比LiNbO3晶体的过程中观察到了组分过冷的实验数据,同时根据Tiller-Chalmers稳定性判据公式半定量计算了近化学计量比LiNbO3晶体临界生长速率的理值,得到一般电阻加热双坩埚提拉法生长近化学计量比Li... 本文在用双坩埚提拉法生长近化学计量比LiNbO3晶体的过程中观察到了组分过冷的实验数据,同时根据Tiller-Chalmers稳定性判据公式半定量计算了近化学计量比LiNbO3晶体临界生长速率的理值,得到一般电阻加热双坩埚提拉法生长近化学计量比LiNbO3晶体的临界生长速率为0.1mm/h数量级。通过临界生长速率解释了一系列晶体生长的实验结果。提出了一些工艺措施来避免组分过冷,根据这些工艺获得了无包裹体的近化学计量比LiNbO3晶体。 展开更多
关键词 双坩埚提拉法 近化学计量比 临界生长速率 组分过冷
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La,V掺杂对Sr_2Bi_4Ti_5O_(18)性能影响对比研究 被引量:1
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作者 张增平 卢网平 陈小兵 《扬州大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 2005年第2期28-31,共4页
采用传统固相烧结工艺,制备了掺杂量分别为0.000~1.000,0.000~0.096的La,V掺杂Sr2Bi4Ti5O18铁电陶瓷.X射线衍射结果显示,La,V对Sr2Bi4Ti5O18的A,B位掺杂都未影响材料的晶体结构.La掺杂使得材料的剩余极化2Pr逐渐降低,而V掺杂可以显著地... 采用传统固相烧结工艺,制备了掺杂量分别为0.000~1.000,0.000~0.096的La,V掺杂Sr2Bi4Ti5O18铁电陶瓷.X射线衍射结果显示,La,V对Sr2Bi4Ti5O18的A,B位掺杂都未影响材料的晶体结构.La掺杂使得材料的剩余极化2Pr逐渐降低,而V掺杂可以显著地提高2Pr.A位掺杂导致材料的居里温度明显下降,而V取代B位Ti4+离子不影响材料的居里温度.微观照片显示,Sr2Bi4Ti5O18样品由呈四方状的晶粒组成,晶粒较为均匀.La掺杂未改变晶粒的形状,而V掺杂使得晶粒呈现扁平状,且晶粒尺寸明显增大. 展开更多
关键词 Sr2Bi4Ti5O18 掺杂 剩余极化 晶格畸变 晶粒尺寸
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SrBi_(4-x)La_xTi_4O_(15)陶瓷材料铁电、介电性能研究
6
作者 朱骏 卢网平 +3 位作者 刘秋朝 毛翔宇 惠荣 陈小兵 《哈尔滨理工大学学报》 CAS 2002年第6期82-84,共3页
按x=0.00,0.10,0.25,0.50,0.75和1.00,制备SrBi_4-xLa_xTi_4O_15的陶瓷样品.用X射线衍射对其微结构进行分析,并测量了铁电、介电性能.结果表明,La掺杂未改变SrBi_4Ti_4O_15的晶体结构;随掺杂量的增加,样品的矫顽场(E_c)减小,剩余极化(2P... 按x=0.00,0.10,0.25,0.50,0.75和1.00,制备SrBi_4-xLa_xTi_4O_15的陶瓷样品.用X射线衍射对其微结构进行分析,并测量了铁电、介电性能.结果表明,La掺杂未改变SrBi_4Ti_4O_15的晶体结构;随掺杂量的增加,样品的矫顽场(E_c)减小,剩余极化(2P_r)先增大,后减小;在x=0.25时,2P_r达到极大值24.2μC·cm^-2,这时E_c=60.8 kV·cm^-1适量La掺杂可提高SrBi_4Ti_4O_15的铁电性能.SrBi_4-xLa_xTi_4O_15的相变温度T_c随x的增加逐渐降低,x=0.25时,T_c=451℃. 展开更多
关键词 SrBi4-xLaxTi4O15 陶瓷材料 介电性能 LA掺杂 铁电性能 相变温度 钛酸锶铋 镧掺杂
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Dy掺杂Sr_2Bi_4Ti_5O_(18)陶瓷的介电性能 被引量:1
7
作者 徐锐 沈柏清 +1 位作者 卢网平 陈小兵 《扬州大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 2004年第2期27-30,共4页
采用固相烧结工艺制备了Sr2Bi4-xDyxTi5O18(x=0,0.25)陶瓷样品,用X射线衍射对其微结构进行了分析,并测量了样品的铁电、介电性能.Sr2Bi3.75Dy0.25Ti5O18样品的X射线谱上出现SrTiO3衍射峰,其介电损耗随温度的关系曲线上存在明显的弛豫损... 采用固相烧结工艺制备了Sr2Bi4-xDyxTi5O18(x=0,0.25)陶瓷样品,用X射线衍射对其微结构进行了分析,并测量了样品的铁电、介电性能.Sr2Bi3.75Dy0.25Ti5O18样品的X射线谱上出现SrTiO3衍射峰,其介电损耗随温度的关系曲线上存在明显的弛豫损耗峰P ,该损耗峰的激活能为0.4eV,可以确定该峰是由氧空位引起的.结果表明:离子半径较小的Dy3+很难进入类钙钛矿层,造成样品中大量的A位空位,使得氧空位浓度增加.氧空位的存在会导致很强的畴钉扎,从而极化降低. 展开更多
关键词 铁电 陶瓷 Sr2Bi4T5O18 介电损耗 激活能 氧空位
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La掺杂SrBi_4Ti_4O_(15)铁电材料性能研究 被引量:17
8
作者 朱骏 卢网平 +3 位作者 刘秋朝 毛翔宇 惠荣 陈小兵 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2003年第6期1524-1528,共5页
按x=0 0 0 ,0 10 ,0 2 5 ,0 5 0 ,0 75和 1 0 0 ,采用固相烧结工艺 ,制备了不同La掺杂量的SrBi4-xLaxTi4O1 5的陶瓷样品 .用x射线衍射对其微结构进行了分析 ,并测量了铁电、介电性能 .结果发现 ,La掺杂未改变SrBi4Ti4O1 5的晶体结... 按x=0 0 0 ,0 10 ,0 2 5 ,0 5 0 ,0 75和 1 0 0 ,采用固相烧结工艺 ,制备了不同La掺杂量的SrBi4-xLaxTi4O1 5的陶瓷样品 .用x射线衍射对其微结构进行了分析 ,并测量了铁电、介电性能 .结果发现 ,La掺杂未改变SrBi4Ti4O1 5的晶体结构 .随掺杂量的增加 ,样品的矫顽场 (Ec)下降 ,剩余极化 ( 2Pr)先增大 ,后减小 .在x =0 2 5时 ,2Pr 达到极大值 ,为2 4 2 μC·cm- 2 ,这时Ec=60 8kV·cm- 1 ,与SrBi4Ti4O1 5相比 ,2Pr 增加了近 5 0 % ,而Ec 下降了近 2 5 % ,材料铁电性能显著提高 .SrBi4-xLaxTi4O1 5的相变温度Tc 随x的增加逐渐降低 ,x =0 2 5时 ,Tc=45 1℃ .在x =0 75 ,1 0 0时 。 展开更多
关键词 LA掺杂 镧掺杂 铁电材料 相变温度 弛豫铁电 铁电随机存储器 介电性能 SRBI4TI4O15 微结构
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La掺杂诱发层状钙钛矿型铁电体弛豫性相变的介电研究 被引量:11
9
作者 惠荣 朱骏 +3 位作者 卢网平 毛翔宇 羌锋 陈小兵 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2004年第1期276-281,共6页
制备了La掺杂层状钙钛矿铁电体材料SrBi4 Ti4 O1 5,Sr2 Bi4 Ti5O1 8以及共生结构Bi4 Ti3O1 2 SrBi4 Ti4 O1 5,通过研究样品的变温介电特性发现 ,SrBi4 -xLaxTi4 O1 5(x=1 0 ) ,Sr2 Bi4 -xLaxTi5O1 8(x≥ 0 5 ) ,(Bi,La) 4Ti3O1 2 Sr(... 制备了La掺杂层状钙钛矿铁电体材料SrBi4 Ti4 O1 5,Sr2 Bi4 Ti5O1 8以及共生结构Bi4 Ti3O1 2 SrBi4 Ti4 O1 5,通过研究样品的变温介电特性发现 ,SrBi4 -xLaxTi4 O1 5(x=1 0 ) ,Sr2 Bi4 -xLaxTi5O1 8(x≥ 0 5 ) ,(Bi,La) 4Ti3O1 2 Sr(Bi,La) 4Ti4 O1 5(x=1 5 0 )样品的介电常数随温度变化曲线都具有弛豫性相变特征 ,La含量的变化对介电温度特性曲线有重要影响 ,随着La含量的增加 ,其弛豫程度明显增加 .弛豫的起源与La离子的存在引起局域出现的微畴有关 ,而正常铁电体—弛豫铁电体自发相变相对应的微观机理是正常铁电体的宏畴向弛豫铁电体微畴的转变 . 展开更多
关键词 镧掺杂 层状钙钛矿 铁电体 介电性能 弛豫性相变 介电常数 正常铁电体 弛豫铁电体
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(Bi,La)_4Ti_3O_(12)Sr(Bi,La)_4Ti_4O_(15)共生结构铁电材料性能研究 被引量:7
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作者 朱骏 卢网平 +3 位作者 刘秋朝 毛翔宇 惠荣 陈小兵 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2003年第10期2627-2631,共5页
采用固相烧结工艺 ,制备了不同La掺杂量 (x =0 0 0 ,0 2 5 ,0 50 ,0 75 ,1 0 0 ,1 2 5和 1 50 )的 (Bi,La) 4 Ti3 O1 2 Sr(Bi,La) 4 Ti4O1 5(SrBi8-xLaxTi7O2 7)共生结构铁电陶瓷样品 .用x射线衍射对其进行微结构分析 ,并测量... 采用固相烧结工艺 ,制备了不同La掺杂量 (x =0 0 0 ,0 2 5 ,0 50 ,0 75 ,1 0 0 ,1 2 5和 1 50 )的 (Bi,La) 4 Ti3 O1 2 Sr(Bi,La) 4 Ti4O1 5(SrBi8-xLaxTi7O2 7)共生结构铁电陶瓷样品 .用x射线衍射对其进行微结构分析 ,并测量铁电、介电性能 .结果发现 ,La掺杂未改变Bi4Ti3 O1 2 SrBi4Ti4O1 5共生结构铁电材料的晶体结构 .随掺杂量的增加 ,样品的矫顽场(Ec)略有增加 ,剩余极化 (2Pr)先增大 ,后减小 .在x =0 50时 ,2Pr 达到极大值 ,为 2 5 6 μC·cm-2 ,与Bi4Ti3 O1 2 SrBi4Ti4O1 5相比 ,2Pr 增加了近 60 % ,而Ec 仅增加约 1 0 % .随La掺杂量的增加 ,样品的居里温度TC 逐渐降低 ,x =0 50时 ,TC=556℃ .在x=1 50时 。 展开更多
关键词 (Bi La)4Ti3O12-SrBi4Ti4O15 共生结构 铁电材料 微结构 铁电陶瓷 LA掺杂 居里温度 弛豫铁电体 铁电性能 介电性能
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