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基于正交调制的频率特性测量系统改进设计 被引量:6
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作者 李小亮 宋伟中 +1 位作者 王照平 卲高平 《实验技术与管理》 CAS 北大核心 2017年第5期99-104,共6页
对基于正交调制的频率特性测量系统做了优化设计。基于扫频信号源频率输出范围为100kHz^40 MHz。为提高扫频精度,扫频模式分为全频扫描和分段扫描,频率分辨率有1kHZ和10kHZ两种;为满足不同测量网络需求以及提高测量精度,设计了程控增益... 对基于正交调制的频率特性测量系统做了优化设计。基于扫频信号源频率输出范围为100kHz^40 MHz。为提高扫频精度,扫频模式分为全频扫描和分段扫描,频率分辨率有1kHZ和10kHZ两种;为满足不同测量网络需求以及提高测量精度,设计了程控增益放大电路,其增益可调范围为数学34dB^14dB,增益步进值为4dB,使得放大器输出信号幅度满足20mV^5V要求;采用有效消除噪声的方法进一步提高了系统测量精度。改进后的测试系统幅频特性测量误差小于0.5dB,相频特性测量精度优于2°。 展开更多
关键词 频率特性 FPGA 正交调制 程控增益
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