反铁电液晶电光特性研究

本文测量了反铁电液晶电光特性,得到阀值电压为30V。利用示波器观察到施加电压后透过率的变化,得到上升时间为140μs,下降时间的为160μs。通过在SmA相保持恒温一段时间,得到较好的分子排列,在偏光显微镜下观察到SmA相,SmC相和SmC_A相的层结构。

利用漏模技术测量液晶的折射率及盒厚

在液晶折射率小于衬底折射率的条件下,利用漏模技术测量液晶的折射率以及液晶盒的厚度。这种技术是利用漏波导的衬底辐射模式,激发的漏模产生从衬底辐射出的m线,将测量的相应耦合角代入已知方程,确定液晶盒的参数。

液晶材料参数及盒厚测试方法的研究

本文利用表面等离于体技术和导模技术测定了银膜、SiO膜的介电常数和厚度,从而确定了液晶的介电常数和液晶盒厚度。首次将集成光学的漏模技术(m线方法)应用到测量液晶参数上,测定了液晶的折射率和液晶盒厚。

LiYF_4:Nd^(3+)中脉冲光泵浦的上转换蓝光

本文报道利用578.4nm的脉冲光泵浦,在室温和77K下,观察到LiYF_4:Nd^(3+)单晶中的上转换蓝光。由发光强度与泵浦光强度平方的直线关系,确定此上转换过程是双光子过程.通过对吸收谱和激发谱以及衰减曲线的研究,确定其上转换激发机制为两步激发和能量传递上转换。

用衰减全反射法对液晶光学性质的研究

液晶作为一种最有前途的平板显示材料,其光学特性及与之相关的分子在液晶盒内的排列特性对显示器件的设计及制作无疑是极为重要的。衰减全反射法(简称ATR方法)最早应用与对金属薄膜特性的研究,后来逐渐成为研究各类介质光学性质的有力工具。最近几年,这种方法在液晶研究领域里展现了强大的活力——它能够测量液晶的光学常数、分析掖晶排列特性、揭示液晶在光场及电场作用下的行为等等。本文介绍了衰减全反射法的基本原理、实验方法及其在研究液晶的光学特性上的应用。

光波导方法在液晶盒常规测量中的应用

最近几年,光波导方法(包含衰减全反射法)在液品研究领域里展现了强大的活力——它能够测量液晶的光学常数、分析液晶排列特性,揭示液晶在光场及电场作用下的行为等等,但一般而言,它是做为研究液晶材料的物理性质的一种手段。本文介绍了光波导方法在液晶盒常规测量中的一些应用。

用衰减全反射法研究向列相液晶的排列性质

液晶作为一种最有前途的平板显示材料,其分子在液晶盒内的排列特性对显示器件的设计及制作无疑是极为重要的。衰减全反射法（简称ATR方法）最早应用于对金属薄膜特性的研究,后来逐渐成为研究各类介质光学性质的有力工具。最近几年,这种方法在研究液晶在液晶盒内的排列性质方面展现了强大的活力。本文介绍了衰减全反射法的基本原理、实验方法并将它应用于探测向列相液晶CP—9001 LA的排列性质。

一种新的研究液晶指向矢截面的光波导方法

液晶作为一种最有前途的平板显示材料,其分子在液晶盒内的排列特性对显示器件的设计及制作无疑是极为重要的.本文提出了一种新的研究分子排列特性的光波导方法——全反射光波导方法.将这种新方法与半泄漏波导方法进行了比较.通过计算机模拟,发现新方法对液晶指向矢的扭曲角、倾斜角及一些局域的畸变层更为敏感,非常适用于分析指向矢排列山较复杂的液晶盒样品.本文介绍了全反射光波导方法的基本原理、实验方法及其在研究液晶的排列特性上的应用.

用一种新的光波导方法研究指向矢分布的计算机模拟(英文)

本文提出了对液晶盒内液晶指向矢分布非常敏感的全反射光波导方法。对半泄漏波导方法和新方法进行了比较。模拟发现新方法对指向矢扭曲角及一些细微差别的敏感度要优于半泄漏波导方法(对倾斜角敏感性稍差)。分析了引起查别的原因。

PDLC的制备方法、物理原理、特性及其应用

波兰技术物理学院J’Ozef Zmija教授应长春物理所五室的邀请,于93年1月8日至12日来我所参观访问,在此期问,Zmija教授作了题为“PDLCD的原理、制备、特性以及应用”的学术报告、该报告主要回顾了PDLC的制备方法,物理原理、主要特性及其应用。PDLC一股是正性向列相液晶材料以液滴的形式分散在聚合物中.液滴的直径一般在十分之几微米到几微米之间.液晶层厚约为10～25um。由于光是在指向矢随意分布的液晶滴上散射.因此液晶层不透光。当把PDLC放在两电极之间。

反铁电液晶显示器的进展

引言本文着重介绍Yamada等人的研究工作。反铁电液晶(AFLC)在电场作用下呈现三稳态,在理论和实际方面已引起人们的注意。从显示应用来看,反铁电液晶排列稳定,并具有陡阈值特性和双滞后回线的可转换三稳态,在多路驱动显示中很有实用价值。因此,反铁电液晶是在无源矩阵显示中最有前途的材料之一,这种无源矩阵显示图象的效果与有源矩阵显示一样。为了改进以前的6英寸单色显示器,人们研究了反铁电液晶材料,用取向方法和驱动技术。成功地研制成6英寸多色视频显示装置。