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热障涂层残余应力的相移云纹法测试 被引量:2
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作者 史训清 聂景旭 张学仁 《航空动力学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第1期33-36,共4页
本文针对的热障涂层(TBC)的细微结构和微小变形特点,提出了一种新的高精度的相移云纹图像处理实验技术,把它同释放法相结合,利用高温云纹光栅,对电子束—物理气相沉积(EB-PVD)热障涂层的残余应力分布进行了测试研究,... 本文针对的热障涂层(TBC)的细微结构和微小变形特点,提出了一种新的高精度的相移云纹图像处理实验技术,把它同释放法相结合,利用高温云纹光栅,对电子束—物理气相沉积(EB-PVD)热障涂层的残余应力分布进行了测试研究,并与其它方法进行了比较分析。 展开更多
关键词 热障涂层 残余应力 相移 云纹法 TBC 航空
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组件裂尖变形场的云纹显微倍增研究 被引量:1
2
作者 史训清 戴福隆 刘宝琛 《力学学报》 EI CSCD 北大核心 1997年第4期448-455,共8页
将云纹干涉法与显微、倍增技术相结合,发展了一种位移场云纹条纹显微倍增方法.对该方法进行了严格的理论推导和精确的实验验证。
关键词 显微倍增 云纹法 裂纹尖 变形场 微电子组件
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黄铜在氨水中的溶解过程对其局部塑性变形的促进作用 被引量:4
3
作者 张天成 褚武扬 +2 位作者 史训清 朱万旭 刘宝琛 《金属学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1997年第3期309-314,共6页
用激光云纹干涉法研究了黄铜在氨水溶液中应力腐蚀过程中缺口前端位移场和应变场的变化结果表明,在应力腐蚀裂纹萌生前,溶解(腐蚀)过程本身能使缺口前端塑性区增大,与此同时也使塑性区中各点的塑性变形量增大,即溶解过程本身能促... 用激光云纹干涉法研究了黄铜在氨水溶液中应力腐蚀过程中缺口前端位移场和应变场的变化结果表明,在应力腐蚀裂纹萌生前,溶解(腐蚀)过程本身能使缺口前端塑性区增大,与此同时也使塑性区中各点的塑性变形量增大,即溶解过程本身能促进塑性变形。 展开更多
关键词 黄铜 应力腐蚀 塑性变形 氨水
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薄膜应力应变曲线和基本力学性能测试 被引量:2
4
作者 刘宝琛 史训清 《实验力学》 CSCD 北大核心 1994年第1期1-7,共7页
本文采用白光散斑和数字散斑两种方法测量了厚度在(lm—60μm)之间康铜孤立膜和其上喷镀TiO2后复合膜的应力应变曲线,并成功地利用一种新方法—复合材料分离法由孤立膜和复合膜应力应变曲线分离出TiO2膜的应力应变曲线... 本文采用白光散斑和数字散斑两种方法测量了厚度在(lm—60μm)之间康铜孤立膜和其上喷镀TiO2后复合膜的应力应变曲线,并成功地利用一种新方法—复合材料分离法由孤立膜和复合膜应力应变曲线分离出TiO2膜的应力应变曲线,同时给出了它们的基本力学性能(如E,σs,b,Kc),测量结果表明这一方法对于微电子及其组件中常用的薄膜(lμm—60μm)及超薄膜(0.1μm—1μm)的应力应变和基本力学性能的测量有普遍意义。 展开更多
关键词 薄膜 应力应变曲线 力学测量
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云纹干涉反转倍增法及其在微电子组件变形场测量中应用 被引量:1
5
作者 刘宝琛 史训清 《实验力学》 CSCD 北大核心 1996年第4期480-486,共7页
本文提出并介绍了云纹干涉反转倍增法,该方法将光学载波、反转剪切、富立叶变换倍增技术巧妙地结合于云纹干涉光路中。利用载波频率,把带载波的云纹干涉变形图在富立叶变换系统中进行条纹倍增,而试样变形信息也倍增了相同倍数,将云... 本文提出并介绍了云纹干涉反转倍增法,该方法将光学载波、反转剪切、富立叶变换倍增技术巧妙地结合于云纹干涉光路中。利用载波频率,把带载波的云纹干涉变形图在富立叶变换系统中进行条纹倍增,而试样变形信息也倍增了相同倍数,将云纹干涉的测量灵敏度又提高了一个数量级。在实验中实现了16倍倍增,即位移测量灵敏度由0.4μm提高到0.025μm(虚栅频率1/2400)。将这一方法用于测量热载下金属Ni膜/ZrO2陶瓷基界面裂纹尖端面内位移场,分析裂尖位移奇异性。实验表明:热载作用下,膜/基组件界面裂纹尖端的位移奇异性具有指数奇异特性,其奇异性指数与膜/基材料。 展开更多
关键词 反转倍增 云纹法 膜/基组件 微电子组件
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云纹干涉反转倍增技术研究Ti的应力腐蚀行为
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作者 张天成 吕宏 +3 位作者 褚武扬 朱万旭 刘宝琛 史训清 《腐蚀科学与防护技术》 CAS CSCD 1998年第4期217-221,共5页
介绍了高灵敏度的激光云纹显微倍增技术,并用其研究了工业纯钛在甲醇+0.6mol/LKCl溶液中应力腐蚀时,缺口前端位移场和应变场的变化.结果表明,在应力腐蚀裂纹萌生前,0.6mol/LKCl的甲醇溶液对工业纯钛的阳极... 介绍了高灵敏度的激光云纹显微倍增技术,并用其研究了工业纯钛在甲醇+0.6mol/LKCl溶液中应力腐蚀时,缺口前端位移场和应变场的变化.结果表明,在应力腐蚀裂纹萌生前,0.6mol/LKCl的甲醇溶液对工业纯钛的阳极溶解(腐蚀)过程本身能使缺口前端的塑性区增大,与此同时,塑性区中各点的塑性变形量也相应增加,即溶解过程本身促进了局部塑性变形. 展开更多
关键词 云纹干涉 显微倍增 工业纯钛 应力腐蚀 塑性变形
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QUICK ASSESSMENT METHODOLOGY FOR RELIABILITY OF SOLDER JOINTS IN BALL GRID ARRAY (BGA) ASSEMBLY——PART Ⅰ: CREEP CONSTITUTIVE RELATION AND FATIGUE MODEL 被引量:3
7
作者 史训清 王志平 +2 位作者 John HL Pang 张学仁 聂景旭 《Acta Mechanica Sinica》 SCIE EI CAS CSCD 2002年第3期274-287,共14页
In this study, a new unified creep constitutive relation and a mod- ified energy-based fatigue model have been established respectively to describe the creep flow and predict the fatigue life of Sn-Pb solders. It is f... In this study, a new unified creep constitutive relation and a mod- ified energy-based fatigue model have been established respectively to describe the creep flow and predict the fatigue life of Sn-Pb solders. It is found that the relation successfully elucidates the creep mechanism related to current constitutive relations. The model can be used to describe the temperature and frequency dependent low cycle fatigue behavior of the solder. The relation and the model are further employed in part Ⅱ to develop the numerical simulation approach for the long-term reliability assessment of the plastic ball grid array (BGA) assembly. 展开更多
关键词 dislocation controlled creep flow creep-fatigue interaction constitutive relation life prediction model solder joint reliability
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云纹干涉法现场测量技术及其在微电子封装中的应用 被引量:3
8
作者 史训清 戴福隆 《实验力学》 CSCD 北大核心 2002年第z1期206-222,共17页
本文研制了多功能微观云纹干涉仪系统.该系统可以现场测量电子封装组件热疲劳、热湿耦合、热载荷引起的变形,被应用于电子封装组件的可靠性分析中.由现场云纹干涉技术测得的疲劳寿命与加速热循环实验的结果相吻合.本系统还被应用于铜焊... 本文研制了多功能微观云纹干涉仪系统.该系统可以现场测量电子封装组件热疲劳、热湿耦合、热载荷引起的变形,被应用于电子封装组件的可靠性分析中.由现场云纹干涉技术测得的疲劳寿命与加速热循环实验的结果相吻合.本系统还被应用于铜焊点的断裂行为分析中.实验证明本系统可以测量多层结构材料的应力强度因子、应变能释放率以及位相角. 展开更多
关键词 现场测量 微观云纹干涉系统 微电子封装组件 断裂
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微电子封装实验技术的回顾及发展现状 被引量:2
9
作者 史训清 谢惠民 戴福隆 《实验力学》 CSCD 北大核心 2002年第z1期223-244,共22页
微电子封装,包括微电力系统及光电子封装,为实验力学开辟了新的研究应用领域,也对传统实验测试方法和测量技术提出挑战.本文讨论了微电子封装的发展趋势、微电子封装可靠性及相关力学问题.随后回顾了微观实验技术在微电子封装领域的发展... 微电子封装,包括微电力系统及光电子封装,为实验力学开辟了新的研究应用领域,也对传统实验测试方法和测量技术提出挑战.本文讨论了微电子封装的发展趋势、微电子封装可靠性及相关力学问题.随后回顾了微观实验技术在微电子封装领域的发展,最后作者着重提出了一些提高微电子封装组件的可靠性的研究方法及思路. 展开更多
关键词 微电子封装 可靠性 云纹干涉
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STUDY OF FAILURE MODES OF MICROELECTRONIC PACKAGING MODULES BY HOLOGRAPHY QUASI PROJECTION MOIRE METHOD 被引量:1
10
作者 史训清 刘宝琛 戴福隆 《Acta Mechanica Sinica》 SCIE EI CAS CSCD 1997年第2期179-185,共7页
In this paper, a novel interferometric method with a wide range of sensitivities, called holography quasi projection moire, is proposed. It combines the features of the variated double projection moire method and the ... In this paper, a novel interferometric method with a wide range of sensitivities, called holography quasi projection moire, is proposed. It combines the features of the variated double projection moire method and the holographic interferometry method. This technique is used to study the failure modes of microelectronic packaging modules. 展开更多
关键词 HOLOGRAPHY quasi projection moire sensitivity failure modes packaging modules
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QUICK ASSESSMENT METHODOLOGY FOR RELIABILITY OF SOLDER JOINTS IN BALL GRID ARRAY(BGA)ASSEMBLY——PART Ⅱ:RELIABILITY EXPERIMENT AND NUMERICAL SIMULATION 被引量:1
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作者 史训清 John HL Pang +2 位作者 杨前进 王志平 聂景旭 《Acta Mechanica Sinica》 SCIE EI CAS CSCD 2002年第4期356-367,共12页
In the present study,a facility,i.e.,a mechanical deflection system (MDS),was established and applied to assess the long-term reliability of the solder joints in plastic ball grid array (BGA) assembly.It was found tha... In the present study,a facility,i.e.,a mechanical deflection system (MDS),was established and applied to assess the long-term reliability of the solder joints in plastic ball grid array (BGA) assembly.It was found that the MDS not only quickly assesses the long-term reliability of solder joints within days,but can also mimic similar failure mechanisms in accelerated thermal cycling (ATC) tests. Based on the MDS and ATC reliability experiments,the acceleration factors (AF) were obtained for different reliability testing conditions.Furthermore,by using the creep constitutive relation and fatigue life model developed in part I,a numerical approach was established for the purpose of virtual life prediction of solder joints. The simulation results were found to be in good agreement with the test results from the MDS.As a result,a new reliability assessment methodology was established as an alternative to ATC for the evaluation of long-term reliability of plastic BGA assembly. 展开更多
关键词 long-term reliability plastic BGA assembly MDS reliability experiment FE numerical simulation acceleration factor
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金属铜电沉积调控及其在芯片制造中的应用 被引量:1
12
作者 廖小茹 李真 +2 位作者 谭柏照 罗继业 史训清 《中国科学:化学》 CAS CSCD 北大核心 2023年第10期1989-2007,共19页
金属铜因其优异的导电性、导热性、机械延展性和抗电迁移性,在芯片制造工业中作为互连材料广泛应用.铜互连结构的制备主要使用湿法的电化学沉积技术.本文针对芯片制造相关金属铜电沉积工艺,系统介绍了金属铜电沉积调控用关键添加剂组分... 金属铜因其优异的导电性、导热性、机械延展性和抗电迁移性,在芯片制造工业中作为互连材料广泛应用.铜互连结构的制备主要使用湿法的电化学沉积技术.本文针对芯片制造相关金属铜电沉积工艺,系统介绍了金属铜电沉积调控用关键添加剂组分及其作用原理,并详细介绍了电镀铜在芯片制造核心工艺(大马士革电镀、硅通孔、铜柱电镀及再布线层电镀)中的技术需求、工艺流程及未来技术发展趋势.最后,本文针对我国高端电子电镀行业的发展现状,对金属铜电沉积调控及其在芯片制造中的应用未来发展方向进行了展望. 展开更多
关键词 电子电镀 铜沉积 电镀添加剂 芯片制造 超等角电镀
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