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兆声清洗法和离心喷射清洗法的比较 被引量：1
1
作者 凤坤 史迅达 +2 位作者 李刚 许峰 刘培东 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第2期410-413,共4页
用基于改进的RCA清洗液结合兆声清洗法和离心喷射法清洗抛光的硅片 ,干燥后用激光扫描法测试抛光硅片表面颗粒 .结果表明 ,改进的RCA清洗液结合兆声的清洗方法对于去除硅片表面的微小颗粒具有更高的效率 .
关键词 兆声 离心喷射 清洗 颗粒 硅片 RCA
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