负性向列相液晶电致缺陷的产生与湮灭过程

取向有序的液晶材料具有丰富的物理各向异性、外场响应性、物理效应,催生了新一代的光电应用.利用电场可在液晶中产生拓扑缺陷.缺陷动态过程受材料自身特性和外界条件的影响尚未明晰.本文选用介电各向异性△ε在-1.1到-11.5之间的7种向列相液晶材料,通过施加线性增加的交流电场,研究了负性向列相液晶电致脐点缺陷产生到湮灭过程中材料特性(△ε)和外界条件(温度、外加电场参数)对脐点缺陷的标度规律及湮灭快慢的影响.结果表明:在不同的△ε、温度和电场频率下,缺陷产生过程均满足Kibble-Zurek机制,即缺陷密度与电场变化率之间存在标度关系,且标度指数约为1/2;温度越高,产生缺陷密度越大;△ε越强或电场变化越快,缺陷湮灭速度越快.本文的研究厘清了拓扑缺陷产生湮灭与材料特性和外界条件的依赖关系,有利于对软物质中拓扑缺陷动态过程的认识和理解.

我国高技术产业有待研究的战略问题

在经济学视野中，高技术产业也就是高风险产业。高技术产业战略上的成败得失，不仅关系到高技术本身的成长发展问题，更关系到产业结构的调整与演变乃至宏观经济增长的方方面面。因此，高技术产业的战略问题理应受到各方面的关注。然而迄今为止，我国高技术产业的不少战略问题，不论是在理论上还是在实践中都还存在较大的模糊性和不确定性。从宏观经济发展的角度看，至少以下三方面问题还有待于进一步研究。