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利用整帧翻转的SRAM型FPGA故障注入加速算法
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作者 孙鹏跃 吕晟莱 +5 位作者 毛二坤 张书政 陈雷 周欢 黄仰博 楼生强 《国防科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第5期207-211,共5页
不可恢复异常比特位(unrecoverable-sensitive bits,UR-SB)不能通过定时刷新修复,会造成卫星载荷在轨服务的长时间中断,是地面故障注入试验需要着重评估和改善的。但UR-SB占比极低,若采用传统逐位翻转故障注入方法,其测试耗时太长,效率... 不可恢复异常比特位(unrecoverable-sensitive bits,UR-SB)不能通过定时刷新修复,会造成卫星载荷在轨服务的长时间中断,是地面故障注入试验需要着重评估和改善的。但UR-SB占比极低,若采用传统逐位翻转故障注入方法,其测试耗时太长,效率极低。提出了一种基于整帧翻转的静态随机存取存储器型现场可编程门阵列的故障注入加速算法,其通过整帧翻转能够快速筛除不存在UR-SB的配置帧,并进一步用二分法对存在UR-SB的配置帧进行快速搜索,有效加速了UR-SB的精确定位过程。以在轨常用XQR2V3000器件为例,理论分析在较差情况下测试效率可提升207倍,信号生成载荷实测结果最高可提升949倍,理论分析和实测结果均验证了所提加速算法的有效性。 展开更多
关键词 故障注入 整帧翻转 不可恢复异常比特位 抗辐照可靠性 现场可编程门阵列
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