用银激活计数器测量快脉冲中子

本文介绍了银激活计数器测量等离子体焦点快脉冲中子的原理，用加速器Ｄ－Ｄ中子作标准中子源，采用饱和照射方式对探头进行了标定。在探测距离６０ｃｍ，给出探头定标系数η＝（２．６０土０．３２）×１０￣４中子／计数。误差分析表明，作与不作散射中子校正，实际测量焦点中子的相对标准误差小于２０％和３０％。最后给出了测量焦点中子的部分结果。

材料表面改性脉冲高能量密度等离子体研究

采用热敏纸和量热计作为诊断手段，研究了同轴等离子体枪产生的脉冲高能量密度等离子体的空间分布及其对材料表面改性的影响。结果表明，在一定的轴向距离内，等离子体束呈现轴对称截面分布，其沉积能量密度在（1．3～5）×104J／m2之间。为获得较好的表面改性结果，要求等离子体束的沉积能量密度在（2～2．5）×104J／m2范围内，并在束截面内均匀分布。同轴枪电极结构及放电电压等均对等离子体束的能量密度及其分布具有明显影响，因此可通过改变同轴枪参数，以获得所需的等离子体条件。

等离子体焦点装置径向运动电流壳层的不稳定现象

在ＤＰＦ－４０等离子体焦点装置中，首次观测到径向运动电流壳层的一种不稳定现象，即不稳定模式。它属于ｍ＝０模的ＭＨＤ不稳定性，但仅具有半个波长并且发生在等离子体－电极边界上。在相继的一系列放电中，该不稳定模式与通常的稳定模式以随机方式发生。两种模式对壳层和箍缩等离子体的位形结构和运动方式及中子产额等具有显著的影响。不稳定模式的中子产额较低，而稳定模式的中子产额则较高，因而引起平均中子产额下降，且分散性增大。

等离子体焦点装置中子发射的研究

研究了 ＤＰＦ－４０ Ｍａｔｈｅｒ型等离子体焦点装置不同电极结构对于中子发射的影响。通过改变电极结构，使装置产生的 ２．４５ ＭｅＶ氖－氖反应（Ｄ－Ｄ）脉冲快中子产额由每次放电 １０８提高到 １０９。该值已接近中子产额定标定律的预期值。中子脉宽约为 ４０～６０ ｎｓ。此外发现，当装置长期连续运行时，绝缘子表面状态的进一步变化对等离子体聚焦运动和中子发射具有不利影响。