1
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DC/DC电源模块可靠性的研究 |
吕长志
马卫东
谢雪松
张小玲
刘扬
黄春益
李志国
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《北京工业大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2010 |
14
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2
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国产晶体管的长期贮存可靠性 |
吕长志
张小玲
谢雪松
程尧海
王东凤
李志国
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《电子产品可靠性与环境试验》
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2009 |
1
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3
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三种纵向结构的AlGaN/GaN HFET性能比较 |
吕长志
冯士维
王东凤
张小玲
谢雪松
何焱
张浩
徐立国
袁明文
李效白
曾庆明
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《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2005 |
0 |
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4
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半导体器件热特性的电学法测量与分析 |
冯士维
谢雪松
吕长志
张小玲
何焱
沈光地
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《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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1999 |
53
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5
|
半导体功率发光二极管温升和热阻的测量及研究 |
张跃宗
冯士维
谢雪松
李瑛
杨集
孙静莹
吕长志
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《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2006 |
18
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6
|
基于ANSYS的IGBT热模拟与分析 |
张健
吕长志
张小玲
谢雪松
黄月强
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《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
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2011 |
15
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7
|
电子元器件加速寿命试验方法的比较 |
刘婧
吕长志
李志国
郭春生
冯士维
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
|
2006 |
22
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8
|
Arrhenius方程应用新方法研究 |
马卫东
吕长志
李志国
郭春生
郭敏
李颖
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《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
|
2011 |
11
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9
|
激光二极管正向电特性的精确检测 |
丛红侠
冯列峰
王军
朱传云
王存达
谢雪松
吕长志
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《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
|
2006 |
6
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10
|
IGBT焊料层中的空洞对器件热可靠性的影响 |
张健
张小玲
吕长志
佘烁杰
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《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
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2011 |
13
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11
|
非导电样品荷电效应的吸收电流评价方法 |
吉元
张虹
史佳新
何焱
吕长志
徐学东
张隐奇
郭汉生
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《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
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2004 |
7
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12
|
一种IGBT热阻的测量方法 |
黄月强
吕长志
谢雪松
张小玲
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《电力电子技术》
CSCD
北大核心
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2010 |
11
|
|
13
|
GaAs MESFET正向肖特基结电压温度特性的研究 |
冯士维
吕长志
丁广钰
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《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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1994 |
9
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14
|
基于加速退化晶体管贮存寿命的评估 |
陈成菊
张小玲
赵利
赵伟
齐浩淳
谢雪松
吕长志
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
|
2013 |
5
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15
|
GaN基紫外光探测器研究进展 |
徐立国
谢雪松
吕长志
冯士维
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《半导体光电》
CAS
CSCD
北大核心
|
2004 |
9
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16
|
ZnO单晶薄膜光电响应特性 |
李瑛
冯士维
杨集
张跃宗
谢雪松
吕长志
卢毅成
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《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
|
2006 |
4
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17
|
直流和脉冲工作的VDMOS可靠性试验 |
单尼娜
吕长志
马卫东
李志国
郭春生
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
|
2010 |
5
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18
|
DC/DC电源模块的有限元热分析 |
王元春
马卫东
吕长志
李志国
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《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
|
2009 |
5
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19
|
DC/DC模块中功率器件的寿命预计方法 |
黄春益
马卫东
张喆
谢雪松
吕长志
李志国
|
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
|
2010 |
4
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20
|
基于参数退化法评价功率肖特基二极管寿命 |
段毅
马卫东
吕长志
李志国
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
|
2009 |
4
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