小电容试品表面泄漏对测量tgδ的影响分析

分析了小电容试品用加装屏蔽环的方法来消除瓷裙表面潮湿、脏污等表面泄漏对ｔｇδ测试的影响，在小电容试品瓷套表面加屏蔽环时，由于改变了内部电场分布，ｔｇδ的测试结果误差很大，正接法时结果偏小，倒接法时结果偏大，因此在相对湿度小于８０％时才能测准，湿度过大时应采取表面涂防污涂料等措施。