一种可调焦离轴两反光学系统精密调校工艺技术研究

针对可调焦离轴两反光学系统的精密装调,提出了一种共基准调校方法,使导轨导向与主镜和次镜光轴均以同一基准进行精确调校,实现导轨运动轴线与主镜和次镜光轴平行。主镜、次镜系统光轴一致性调试采用初调整和精调整两步完成,初调整实现主镜和次镜基本位于理论安装位置,降低装调误差,然后进行计算机辅助装调,实现主镜和次镜光轴一致性精调整,使系统波像差满足要求。实验结果表明:无穷远处系统波像差RMS达到(1/15)λ(λ=632.8 nm),系统衍射分辨率达到0.64″,系统调焦至10 mm处,实测主镜、次镜系统所成焦距为1608 mm,系统分辨率为2.6″,达到设计要求。

激光测距机光轴平行性测试方法

针对现代激光测距机光轴平行性的检测问题,提出了一种高精度自动化的检测方法。该检测方法以离轴式大口径抛物镜面平行光管法作为硬件结构;利用LABVIEW的模块化编程和LABVIEW-Vision的图像处理作为软件核心。经试验对比验证,本测试方法相比激光烧蚀法最大偏差不大于0.05mrad,满足工程应用级激光测距机光轴平行性测试要求。