新型PSVA像素结构中液晶配向的研究

研究了一种新型的PSVA(聚合物稳定垂直配向)像素结构,与传统的的像素结构相比,该新型结构具有更高的穿透率。钝化(Passivation,PV)层的沟槽深度是新型像素结构中的一个关键参数,液晶的方位角和倾斜角与沟槽深度具有很强的相关性。通过模拟和实验研究了液晶的在该结构中的配向行为。