基于正弦光栅相位调制的三维测量

高分辨率三维轮廓的测量在现代社会有着广泛应用,本文对正弦光栅相位调制的三维测量方法进行了理论研究,用计算机控制数字投影设备产生正弦条纹光栅,利用CCD采样分步移相的图案,通过解包裹的方法获得物体的三维信息,测量精度达到10微米。