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用于大面积芯片互连的纳米银膏无压烧结行为 被引量:7
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作者 吴炜祯 杨帆 +1 位作者 胡博 李明雨 《焊接学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2021年第1期83-90,I0007,共9页
文中采用化学还原法制备出一种可以用于低温烧结的纳米银膏,通过对低温无压烧结纳米银焊点的组织结构、力学性能和失效模式进行了分析,系统地讨论了无压烧结焊点中烧结银组织的渐进性组织演变规律,获得了互连焊点尺寸对烧结银连接性能... 文中采用化学还原法制备出一种可以用于低温烧结的纳米银膏,通过对低温无压烧结纳米银焊点的组织结构、力学性能和失效模式进行了分析,系统地讨论了无压烧结焊点中烧结银组织的渐进性组织演变规律,获得了互连焊点尺寸对烧结银连接性能和可靠性的影响.在烧结温度250℃,保温时间1 h的条件下,焊点面积小于等于3 mm×3 mm时,无压烧结焊点强度可以达到70 MPa以上.随着尺寸的增加,焊点抗剪强度逐渐降低,但焊点尺寸为10 mm×10 mm时仍然保持20 MPa以上的抗剪强度.断面形貌表征结果显示,焊点面积越大,烧结银层塑性变形程度越低.所有尺寸焊点的断面形貌从中心到边缘处均存在渐进性的组织演变,边缘处均呈现剧烈的塑性变形. 展开更多
关键词 纳米银膏 无压烧结 大面积 力学性能 组织演变
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宽禁带半导体用烧结银膏与金属化基板连接机制研究 被引量:1
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作者 吴炜祯 杨帆 +1 位作者 胡博 李明雨 《机车电传动》 北大核心 2022年第6期149-155,共7页
使用烧结银膏作为封装互连材料可以充分发挥宽禁带半导体在器件应用上的优势,并提高器件的可靠性。通过对无压银膏烧结焊点的微观组织、力学性能和失效模式进行分析,系统地研究了无压银膏烧结焊点在不同温度下的组织演变规律,获得了烧... 使用烧结银膏作为封装互连材料可以充分发挥宽禁带半导体在器件应用上的优势,并提高器件的可靠性。通过对无压银膏烧结焊点的微观组织、力学性能和失效模式进行分析,系统地研究了无压银膏烧结焊点在不同温度下的组织演变规律,获得了烧结温度、基板金属化类型对烧结银连接性能和可靠性的影响。当烧结温度达到250℃,银界面无压烧结焊点的剪切强度达到60 MPa以上;金界面无压烧结焊点在200℃时剪切强度最高,升高温度会导致烧结银与金界面原子扩散过快,界面结合强度降低;铜界面无压烧结焊点由于氧化严重,界面出现裂纹,剪切强度远低于金、银界面焊点的剪切强度。 展开更多
关键词 烧结银膏 无压烧结 剪切强度 表面金属化 断裂模式
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Effect of surface finish metallization on interfacial bonding behavior of sintered Ag joints 被引量:1
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作者 杨帆 吴炜祯 +1 位作者 杜建军 李明雨 《China Welding》 CAS 2022年第1期60-64,共5页
In this work,the sandwich joints were joined by low temperature pressureless sintering Ag paste.The morphology and thermal behavior of Ag nanoparticle paste was characterized and analyzed.The sintered Ag joints with d... In this work,the sandwich joints were joined by low temperature pressureless sintering Ag paste.The morphology and thermal behavior of Ag nanoparticle paste was characterized and analyzed.The sintered Ag joints with different metallization were prepared and tested.The joints with Ag metallization exhibited superior shear strength and interface bonding ratio.However,the joints with Cu metallization showed lowest shear strength and interface delamination.The interfacial microstructures were observed and the diffusion kinetics between Ag and Au atoms were both calculated.The excessive diffusion of Ag atoms towards the Au layer deteriorated the interface bonding ratio and shear strength.This work will help understand the bonding mechanism between sintered Ag and other metallization. 展开更多
关键词 Sintered Ag interface Au metallization Cu oxidation
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