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X射线显微成像中的光子统计噪声分析
1
作者
吴路崎
高昆
+1 位作者
陈健
吴自玉
《中国科学技术大学学报》
CAS
CSCD
北大核心
2014年第3期227-232,共6页
光子统计噪声是X射线显微成像中影响图像质量的主要因素之一,它对图像质量的影响一般用信噪比来描述.研究表明,X射线显微图像的信噪比随着入射光子数的增加而增加;但由于X射线会对样品带来损伤,所以实验中要求尽量减少入射的X光光子数....
光子统计噪声是X射线显微成像中影响图像质量的主要因素之一,它对图像质量的影响一般用信噪比来描述.研究表明,X射线显微图像的信噪比随着入射光子数的增加而增加;但由于X射线会对样品带来损伤,所以实验中要求尽量减少入射的X光光子数.但是传统的基于经验数据的罗斯判据并不能给出客观的答案,特别对经过图像减影处理的带噪图像,罗斯判据并不适用.这里提出"区分概率"的概念对罗斯判据进行分析和改进,有助于找出所需最小入射光子数.将区分概率运用到图像减影法中进行模拟,求出此图像处理方法下所需最小入射光子数.最后得出区分概率在0.4时是图像中物体与背景部分得以区分的一个较合理阈值的结论.
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关键词
图像衬度
信噪比
罗斯判据
区分概率
图像减影
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职称材料
题名
X射线显微成像中的光子统计噪声分析
1
作者
吴路崎
高昆
陈健
吴自玉
机构
中国科学技术大学国家同步辐射实验室
中国科学技术大学核科学技术学院
出处
《中国科学技术大学学报》
CAS
CSCD
北大核心
2014年第3期227-232,共6页
文摘
光子统计噪声是X射线显微成像中影响图像质量的主要因素之一,它对图像质量的影响一般用信噪比来描述.研究表明,X射线显微图像的信噪比随着入射光子数的增加而增加;但由于X射线会对样品带来损伤,所以实验中要求尽量减少入射的X光光子数.但是传统的基于经验数据的罗斯判据并不能给出客观的答案,特别对经过图像减影处理的带噪图像,罗斯判据并不适用.这里提出"区分概率"的概念对罗斯判据进行分析和改进,有助于找出所需最小入射光子数.将区分概率运用到图像减影法中进行模拟,求出此图像处理方法下所需最小入射光子数.最后得出区分概率在0.4时是图像中物体与背景部分得以区分的一个较合理阈值的结论.
关键词
图像衬度
信噪比
罗斯判据
区分概率
图像减影
Keywords
image contrast
signal-to-noise ratio
Rose criterion
probability-to-distinguish
image subtraction
分类号
O434.1 [机械工程—光学工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
X射线显微成像中的光子统计噪声分析
吴路崎
高昆
陈健
吴自玉
《中国科学技术大学学报》
CAS
CSCD
北大核心
2014
0
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