期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
基于电子束探测技术的VLSI路径延时故障测试方法
1
作者
吴齐发
孙义和
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
1999年第6期402-406,共5页
介绍了将电子束探测(EB-P)技术应用于路径延时故障的测试。首先用EB-P的工作原理和实验结果说明了用EB-P测量路径延时的可行性;随后讨论了一种将EB-P用作测试点的测试点插入技术。EB-P作为一种仅具可观性的测试点,较之于既可测又可观的...
介绍了将电子束探测(EB-P)技术应用于路径延时故障的测试。首先用EB-P的工作原理和实验结果说明了用EB-P测量路径延时的可行性;随后讨论了一种将EB-P用作测试点的测试点插入技术。EB-P作为一种仅具可观性的测试点,较之于既可测又可观的测试点同样具有减少需实测路径延时故障数目,消除不可测路径延时故障的作用。此外,用EB-P作为测试点,还具有不会增加路径和延时、不用改动电路的物理结构、不会增加芯片面积。
展开更多
关键词
电子束探测
路径延时
故障
VLSI
测试
下载PDF
职称材料
题名
基于电子束探测技术的VLSI路径延时故障测试方法
1
作者
吴齐发
孙义和
机构
清华大学微电子学研究所
出处
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
1999年第6期402-406,共5页
基金
国家"九五"科技攻关项目!(97-760-02-01)
国防科技基金!(98Js03.1.JW0101)资助项目
文摘
介绍了将电子束探测(EB-P)技术应用于路径延时故障的测试。首先用EB-P的工作原理和实验结果说明了用EB-P测量路径延时的可行性;随后讨论了一种将EB-P用作测试点的测试点插入技术。EB-P作为一种仅具可观性的测试点,较之于既可测又可观的测试点同样具有减少需实测路径延时故障数目,消除不可测路径延时故障的作用。此外,用EB-P作为测试点,还具有不会增加路径和延时、不用改动电路的物理结构、不会增加芯片面积。
关键词
电子束探测
路径延时
故障
VLSI
测试
Keywords
Electronic beam probe
Path delay fault
VLSI
分类号
TN470.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于电子束探测技术的VLSI路径延时故障测试方法
吴齐发
孙义和
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
1999
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部