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题名大景深显微镜的实现方式
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作者
刘冰鑫
李康平
周占福
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机构
中国电子科技集团公司第四十五研究所
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出处
《电子工业专用设备》
2024年第3期33-36,63,共5页
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文摘
大景深显微镜能够在不同焦平面上获取清晰的图像,为晶圆的对准提供了强大的支持。为了扩展景深,研究人员提出了多种技术,包括缩小系统孔径、波前编码和光学切趾等。提出了一种扩展景深的新方法,即双焦点物镜对准,该方法操作简单直观,并且可以直接采集对准标记来实现对准,从而极大地提高了对准的准确性和效率。这些技术和方法为大景深显微镜的后续研究奠定了坚实的基础。
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关键词
集成电路制造
显微镜
大景深
双焦点物镜对准
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Keywords
Integrated circuit manufacturing
Microscopy
Large depth of field
Bifocal objective lens alignment
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分类号
TN305
[电子电信—物理电子学]
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题名针对键合晶圆的视觉与机械夹持预对准方法设计
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作者
李康平
刘冰鑫
周占福
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机构
中国电子科技集团公司第四十五研究所
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出处
《电子工业专用设备》
2024年第4期71-73,共3页
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文摘
在曝光设备中,预对准先将晶圆进行中心定位和角度找正,经过预对准的晶圆传送到工作台中方向及位置一致,保证设备稳定运行。为能满足键合晶圆的预对准要求,采用视觉与机械夹持的方式,设计预对准结构,获得键合晶圆的兼容性,保证设备对键合晶圆的稳定运行。
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关键词
晶圆寻边
视觉寻边
图像处理技术
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Keywords
Wafer edge finding
Visual edge finding
Image processing technology
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分类号
TN305
[电子电信—物理电子学]
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题名接近接触式光刻机三点找平机构研究与应用
被引量:1
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作者
周占福
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机构
中国电子科技集团公司第四十五研究所
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出处
《电子工业专用设备》
2020年第3期47-49,共3页
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文摘
介绍了一种接近接触式光刻机对准工作台找平机构,该机构采用三点找平,容易找平,找平力小,找平时不损伤掩模版和基片涂胶面。结构简单,性能稳定可靠,维修方便。
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关键词
三点找平
光刻机
找平力
楔形误差补偿
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Keywords
Three-point leveling
Lithography machine
Leveling force
Wedge error compensation
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分类号
TN305
[电子电信—物理电子学]
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题名立体端面光刻工艺研究
被引量:1
- 4
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作者
芦刚
周占福
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机构
中国电子科技集团公司第四十五研究所
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出处
《电子工业专用设备》
2015年第7期23-28,共6页
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文摘
立体端面的特种器件,要求在其单侧或者双侧表面光刻出有位置要求的图形。针对这一特种器件的要求,研制了一种可适应立体端面基体的对准工作台及楔形误差补偿机构,并根据立体端面的物理特性,在旋转涂胶法的基础上,研制了适应其涂胶工艺的装夹机构,通过工艺实验,验证了该光刻工艺的可行性。
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关键词
立体端面
楔形误差补偿
涂胶
光刻工艺
曝光分辨率
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Keywords
Solid surface
Wedge error compensation
Coating technology
Lithography technics
Exposure resolution
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分类号
TN305.7
[电子电信—物理电子学]
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题名全自动涂胶设备及涂胶工艺的研究
被引量:3
- 5
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作者
艾博
周占福
吕磊
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机构
中国电子科技集团公司第四十五研究所
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出处
《电子工业专用设备》
2019年第3期56-59,共4页
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文摘
涂胶作为光刻工艺的重要环节,为了保证涂胶工艺质量,提高涂胶设备的自动化程度,减少中间污染环节,开发了一种全自动涂胶设备,通过对涂胶腔体和机械手等关键部件的改进,更好地满足了用户生产线要求;并通过对涂胶工艺中影响膜厚均匀性的重要因素进行研究、实验和分析,得出了适合用户生产线的工艺配方。
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关键词
涂胶腔体
机械手
涂胶工艺
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Keywords
Coating cavity
Robotic arm
Coating process
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分类号
TN305
[电子电信—物理电子学]
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题名基于PLC的星形结构匀胶机操作系统
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作者
许向阳
吕磊
周占福
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机构
中国电子科技集团公司第四十五研究所
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出处
《电子工业专用设备》
2019年第5期33-37,共5页
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文摘
主要侧重于对系统控制方面的讨论。控制系统使用PLC作为核心、触摸屏作为系统操作的输出与输入窗口。主要讨论了操作程序的系统结构、控制时序以及设备的整机结构。
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关键词
系统结构
控制时序
匀胶机
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Keywords
System structure
Control sequence
Coater
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分类号
TN305
[电子电信—物理电子学]
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