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虚拟仪器不确定度问题探讨 被引量:3
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作者 周厚平 石坚 《计算机与数字工程》 2010年第9期73-76,共4页
针对虚拟仪器迅速发展中不确定度难以评定的问题,分析了其不确定度的主要来源和评定遇到的主要问题,并提出了相应的解决方案。
关键词 虚拟仪器 不确定度
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一种集成电路测试系统在线计量方法研究 被引量:1
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作者 周厚平 《计算机与数字工程》 2015年第1期36-38,132,共4页
论文介绍了一种通过对集成电路测试系统芯片测试过程中的电气参数进行测量的方式分析得到集成电路测试系统的指标准确度,从而实现对集成电路测试系统进行在线计量。该方法反映了集成电路测试系统测试过程中的实际工作状况,其计量结果具... 论文介绍了一种通过对集成电路测试系统芯片测试过程中的电气参数进行测量的方式分析得到集成电路测试系统的指标准确度,从而实现对集成电路测试系统进行在线计量。该方法反映了集成电路测试系统测试过程中的实际工作状况,其计量结果具有更高的可信度,同时具有更好的计量效率。 展开更多
关键词 芯片测试 在线计量
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一种数字集成电路标准样片的设计实现
3
作者 胡勇 刘倩 周厚平 《计算机与数字工程》 2015年第1期14-16,154,共4页
标准样片是实现微电子量值溯源和传递的良好途径,论文着重于通过电路设计实现对数字集成电路参数的模拟,并对标准样片测量不确定度评估展开了相应的研究,用以提升标准样片参数的可编程性和量值的准确性,使之适合用于集成电路测试系统的... 标准样片是实现微电子量值溯源和传递的良好途径,论文着重于通过电路设计实现对数字集成电路参数的模拟,并对标准样片测量不确定度评估展开了相应的研究,用以提升标准样片参数的可编程性和量值的准确性,使之适合用于集成电路测试系统的检定、校准以及比对。最后给出了标准样片的不确定度评定和测量数据。 展开更多
关键词 标准样片 溯源性 不确定度评定 定值
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基于标准样片的集成电路测试系统校准装置研究
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作者 肖莹 胡勇 周厚平 《计算机与数字工程》 2019年第1期12-14,225,共4页
标准样片是实现微电子量值溯源和传递的良好途径,而基于标准样片的集成电路测试系统校准装置使得标准样片的量值可以准确可靠地传递到测试系统每个通道上,满足测试系统全通道覆盖的校准需求。论文提出了一种基于标准样片的集成电路测试... 标准样片是实现微电子量值溯源和传递的良好途径,而基于标准样片的集成电路测试系统校准装置使得标准样片的量值可以准确可靠地传递到测试系统每个通道上,满足测试系统全通道覆盖的校准需求。论文提出了一种基于标准样片的集成电路测试系统校准装置架构设计方法,该设计方案具备一定的创新性,可以实现校准装置的通用性、便携性以及校准过程的自动化。 展开更多
关键词 标准样片 溯源性 校准
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