陶瓷超细粉末氢氧化物胶体的ζ一电位

一、引言随着陶瓷材料和陶瓷工业的不断发展,人们对陶瓷粉末的需求日益广泛和多样化,为此对陶瓷超细粉末的研究和制备已引起人们普遍的重视,而且也提出了各种各样的方法和问题。

低介高稳电容器瓷料

一、引言NPO料的主要特点是介电常数小、电容温度系数小,损耗低、绝缘电阻高,用NPO瓷料做出的热稳定独石电容器,可以广泛用于彩色电视机和其他电子通讯设备中、尤其在介电谐振器等微波设备中的应用日益广泛。随着电子工业的迅速发展,混合集成电路工艺和高密度组装技术的突飞猛进、对电路元器件和电容器应有更高的不同要求。

粉末固体比表面计算及形态分析

本文介绍了BET普遍方程、广义的t-法和标准等温线,以及其间的关系。用吸附法测量了典型粉末的比表面S_(BET)和S_t及平均粒径d_(BET),用透射电子显微镜法(TEM)测量了其平均粒径d_(TEM),并求出d_(BET)/d_(TEM)比值。根据d_(BET)/d_(TEM)值分辨粉末形态是多孔体或无孔体,通过t-曲线对此核实并作进一步分析。

用简化氮吸附法研究制备条件对粉体比表面和平均粒径的影响

本文阐述了无孔粉末比表面和平均粒径的关系,列出了用简化氮吸附法测量范围内的典型数据,用实验数据讨论了制备条件对粉末比表面的影响。

硅胶粉末孔分布测定

本文报导用三元氮吸附装置测量的四种硅胶粉末的氮吸附等温线,通过吸附等温线数据计算其BET比表面积和孔分布,定量地描述了多孔固体粉末的形态,对多孔固体粉末制备和应用研究有现实意义。

测量粉末固体比表面和平均粒径的氮吸附法

本文介绍一种小型简化氮吸附装置,可用它测量0.2～1000m^2/g范围多孔固体和粉末固体的比表面,测定值的重现性好,对无孔粉末固体,若其表面不很粗糙,可通过其比表面值计算平均粒径。

用氮吸附法测量粉体的比表面和平均粒径

本文详细阐述用简化氮吸附法测量粉体比表面和平均粒径的原理、实验方法及计算程序。

液相沉淀法制备氧化锆超细粉末团聚机理的研究

本文借助 TEM、IR 光谱、Raman 光谱等分析手段,研究了液相沉淀法制备氧化锆超细粉末的团聚机理。实验结果表明,胶体性能对粉末团聚状态起决定作用。残余离子(NH_4^+、Cl^-)使干凝胶中非架桥羟基数量增加,产生粉末硬团聚体。改善胶体的均匀性和分散性,可以有效地控制粉末的团聚状态。

均匀分散氢氧化锆胶体的制备

本文通过观察胶粒结构和形貌及测定胶体电动力学性能等方法,研究了胶粒的形成、长大和聚集特征、胶体的静电和位阻稳定作用以及晶种对胶体均匀性和分散性的影响。结果表明,控制沉淀方法改善胶粒结构和形貌、引入表面活性剂产生位阻作用以及加入品种,均为制备均匀分散氢氧化锆胶体的有效方法。

氢氧化锆干凝胶团聚结构及氧化锆超细粉末表面粗糙度的分形研究

用小角度X射线散射测量氢氧化锆干凝胶的团聚结构及氧化锆超细粉末的表面粗糙度。结果表明,氢氧化锆干凝胶团聚体具有分形结构,其分形维数与胶体的沉淀工艺条件有关。氧化锆超细粉末具有分形表面特征,其表面分形维数,即表面粗糙程度,与粉末的制备工艺条件有关。