视觉系统在检测对称器件倒反入载带中的应用

针对传统分立器件测试包装时,自动视觉检测一般只检测器件塑封体和引脚等外观,对称器件在替补时可能存在方向倒反的问题,引入了视觉检测的方法。通过检测器件打印码来判断器件方向是否正确。通过具体设计并在实际设备上安装和实验分析,阐述了如何通过视觉检测出载带中的倒反器件,有效提升了产品质量。

长寿命抗干扰测试针在SOT363半导体高频器件测量中的应用

在半导体器件生产企业中,使用测试针接触器件的引脚进行电参数测量,必须考虑两个问题。一个问题是降低测试针与器件引脚间的接触电阻。在自动化生产线中,企业要想得到高精度的测量值,必须经常替换已磨损的测试针,才能获得更高的成品率。另一个问题是降低外部信噪对半导体高频器件(工作频率>2 GHz)HFE参数测量的影响。外部信噪会使高频器件的HFE参数不稳定,造成成品率的降低。通过SOT363测试针设计实例,介绍了新型长寿命抗干扰测试针的设计方法。

安捷伦矢量网络分析仪E5072A射频测控技术应用

随着5G通信时代的来临,在半导体射频芯片测试中,越来越多新型号的射频芯片需进行高频率(GHz级别)射频测试,以前的低频(MHz级别)射频测试平台已不能满足需求,亟需设计新的测控平台。简单介绍安捷伦E5072A矢量网络分析仪、E5270B精密型IV分析仪以及N5181B射频模拟信号发生器,同时介绍射频测试主要参数S参数、P1dB和IP3。通过硬件集成与VB编程成功搭建新的高频射频测控平台,并分享关键技术与核心指令代码。经过大量的测试验收,新平台不仅满足测试需求,同时也为未来更高频率的芯片射频测控打下技术基础。

安捷伦高频阻抗测试仪表E4982A测控技术应用

当前半导体车间高频阻抗测试平台大多是多年前由国外设计开发,平台系统老旧落后,测试仪表已停产多年,亟需升级换代。简单介绍了安捷伦最新型的阻抗仪表E4982A与吉时利2410数字电源表以及高频阻抗原理。在Windows 7系统下通过VB编程成功搭建了新的国产化高频阻抗测试平台,并分享了系统关键技术与核心指令代码。经过大量的测试,新的高频阻抗测试平台不仅覆盖原有的功能,同时掌握了相关核心技术,更加适应未来的生产信息化与升级需求。

GPIB通信在电容测试仪表校准中的应用

安捷伦电容测试仪表(E4980A,4279A)每年需要做年度校准,人工手动校准操作非常复杂且耗时过长。但是运用电容仪表通信协议,年度校准完全可以实现自动化。通过VB编程加GPIB通信的方法编写测控软件,可以实现软件自动发送所有的校准指令,自动判断仪表返回校准数值正确与否,自动保存校准数据为Excel文件同时录入数据库,实现了快速高效的电容测试仪表的校准。