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LD参数连续测试系统研究 被引量：4
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作者 亢俊健 王大成 +4 位作者 姚升武 焦长利 刘鹏鹏 安海忠 苏美开 《激光杂志》 CAS CSCD 北大核心 2002年第6期28-29,共2页
本文介绍了一种新型半导体激光二极管 (LD)参数连续测试系统 ,它采用了高精度的数据采集技术、超强的数据处理技术及精密机械定位技术 ,可对LD的P -I和V -I曲线及相关参数进行连续测试、显示、存储、管理和打印 ,测量速度快 ,测量精度高 。
关键词 半导体激光二极管 参数测试 连续测试 光纤通信
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