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单片MCU内部的电磁兼容性设计研究
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作者 陈华 姚美伦 李毓麟 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2001年第3期182-186,共5页
电磁兼容性 (EMC)是衡量 MCU可靠性的关键指标 ,EMC已经成为 MCU设计中必须考虑的问题。文章介绍了 EMC的有关概念 ,以及在设计 MCU时为提高 EMC性能所采用的一些原则和实现技术 ,提出了
关键词 MCU 电磁兼容性 VLSI 集成电路
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